Автор работы: Пользователь скрыл имя, 18 Июня 2014 в 16:47, курсовая работа
В настоящее время проведение большинства экспериментов занимает большое количество времени и отнимает огромное количество сил у экспериментатора. Это связано в первую очередь с тем, что человеку необходимо одновременно следить за показаниями сразу нескольких приборов, вручную регулировать параметры эксперимента, в ходе его проведения, а так же не забывать фиксировать все полученные результаты. Современное развитие науки и техники позволяет упростить проведение экспериментов методом их автоматизации. Данный метод позволяет освободить экспериментатора от всех выше перечисленных проблем, т.к. один раз написав программу человек может, меняя лишь образцы исследования и начальные условия проводить эксперименты, не заботясь о том, что он что-то может упустить или забыть.
Введение. 3
1. Литературный обзор. 4
1.1 Биполярный транзистор. 4
1.2 МДП-структура. 7
1.2.1 Вольт-фарадные характеристики МДП-структур. 8
1.2.2 Исследование генерационных характеристик МДП-структур. 10
1.3 Многофункциональное устройство сбора данных NI PCI 6221. 11
1.4 Среда программирования LabVIEW. 14
Постановка задачи. 17
2. Стенд для измерения выходных ВАХ биполярного транзистора. 18
2.1 Методика измерения выходных ВАХ биполярного транзистора. 19
2.2 Программа для измерения семейства выходных ВАХ биполярного транзистора. 19
2.2.1 Панель управления. 19
2.2.2 Функциональная панель. 21
2.3 Тестирование программы. 23
3. Стенд для измерения C(t) зависимости МДП-структур. 25
3.1 Описание установки. 25
3.2 Методика измерения C(t) зависимости МДП-структур. 26
3.3 Программа для измерения C(t) зависимости МДП-структур. 27
3.3.1 Панель управления. 27
3.3.2 Практическая реализация алгоритма измерения. 29
3.4 Тестирование программы. 30
Заключение. 37
Список литературы. 38