Сканирующая туннельная микроскопия

Последнее десятилетие в экспериментальной физике характеризуется интенсивным развитием принципиально новых методов изучения поверхностей с нанометровым и атомарным пространственным разрешением. Эти методы объединены под общим названием — сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). Этот термин относится к любым типам микроскопов, в которых изображение формируется за счёт перемещения (сканирования) острого микрозонда (иглы) над исследуемой поверхностью.

ВВЕДЕНИЕ……………………………………………………………………….7
1 ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ………………………………………………….8
1.1.История создания СТМ…………………………………….…………......8
1.2.Устройство СТМ…………………………………………………………….9
1.3. Принцип действия СТМ………………………………………………....11
2 МЕТОДЫ ПОДГОТОВКИ АТОМНО-ОСТРЫХ ПРОВОДЯЩИХ ЗОНДОВ………………………………………………………………………….13
3 ПРАКТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ...............................................................................14
3.1Туннельный эффект…………………………………………………………..14
3.2Туннельная спектроскопия……………………………………………………17
4.ОСНОВНЫЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ЗАДАЧИ, РЕШАЕМЫЕ С ПОМОЩЬЮ СТМ……………………………………………………………....19
5.МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СТМ, ПОГРЕШНОСТЬ И ТОЧНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ.…………………………………………………..22
6.ПРИМЕРЫ РЕШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ЗАДАЧ С ПОМОЩЬЮ СТМ.……………………………………………………………...25
ЗАКЛЮЧЕНИЕ………………………………………………………………...30
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ……………………………………………………..31