Автоматизированная система измерения амплитудных и амплитудно-частотных характеристик усилителей

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 19 Декабря 2013 в 05:20, курсовая работа

Описание работы

Автоматизированная система измерения амплитудных и амплитудно-частотных характеристик усилителей.
Разработать автоматизированную систему снятия амплитудных и амплитудно-частотных характеристик усилителей. Система включает в себя измерительный канал и канал формирования испытательных сигналов. Содержание расчетно-пояснительной записки (перечень подлежащих разработке вопросов к исходные данные к ним):
1. Провести обзорную проработку темы работы (назначение, аналоги, актуальность разработки).
2. Разработать структурную и функциональную схемы системы.
3. Провести расчет системных параметров и обоснование выбора микропроцессорной части измерительного канала

Содержание работы

Задание на курсовую работу…………………………………………3
Анализ задания и обзор тематики……………………………………4
Разработка функциональной схемы………………………………… 7
Выбор аппаратной части………………………………………………12
Список литературы…………………………………………………..13

Файлы: 1 файл

111.docx

— 195.80 Кб (Скачать файл)

.

Пусть ΔtК = 200 нс, ΔtВ = 100 нс, у выбранного АЦП ΔtЦАП = 400 нс, тогда длительность ввода информации в ЭВМ не должна превышать:

мкс.

Для обеспечения погрешности 0,1% необходимо выполнить условие:

.

Разрядность ЦАП определяется необходимой разрядностью микроконтроллера на формирование испытательного сигнала. Разрядность находится исходя из дискретности установки частоты и формирования амплитуды в заданном диапазоне.

Выберем N = 12.

Максимальная частота  имитируемого сигнала равна 10 кГц. Поэтому частоту среза фильтра нижних частот можно задать 11 кГц.

Погрешность восстановления аналогового сигнала зависит  от применяемой интерполяции при  восстановлении сигнала. Если рассматривать  в качестве идеального фильтра ФНЧ, то, например, фильтр Баттеворта по эффективности приближается к устройствам, осуществляющим линейную интерполяцию, особенно с ростом порядка фильтра.

Относительный квадрат ошибки восстановления для интерполирующих  фильтров рассчитывается по формуле:

,

где fmax – максимальная частота в спектре сигнала; m – порядок фильтра; T – период коммутации (время выборки ΔtВ или шаг дискретизации).

На практике для уменьшения погрешности  восстановления шаг дискретизации  (время выборки) выбирают из соотношения

ΔtВ=1/(k2fmax),

причем k=5¸10.

При T = 10 мкс и m = 3 получим, что .

 

Выбор аппаратной части


Выбор микроконтроллера будем  производить исходя из полученных требований:

  1. наличие 12-разрядного АЦП
  2. наличие 12-разрядного ЦАП
  3. наличие внешнего интерфейса
  4. возможность подключения или наличие 16-битного регистра памяти
  5. Общее количество программируемых выходов >10

Поиск будем проводить  на сайте производителей. Под наши условия (и даже с запасом) подходит MSP430F2619S-HT фирмы Texas Instruments [6]

Рис. 3





Low Supply Voltage Range 1.8 V to 3.6 V

  • Ultralow-Power Consumption
    • Active Mode: 365 µA at 1 MHz, 2.2 V
    • Standby Mode (VLO): 0.5 µA
    • Off Mode (RAM Retention): 0.1 µA
  • Wake-Up From Standby Mode in Less than 1 µs
  • 16-Bit RISC Architecture, 62.5-ns Instruction Cycle Time
  • Three-Channel Internal DMA
  • 12-Bit Analog-to-Digital (A/D) Converter With Internal  
    Reference, Sample-and-Hold, and Autoscan Feature
  • Dual 12-Bit Digital-to-Analog (D/A) Converters With  
    Synchronization
  • 16-Bit Timer_A With Three Capture/Compare Registers
  • 16-Bit Timer_B With Seven Capture/Compare-With-Shadow  
    Registers
  • On-Chip Comparator
  • Four Universal Serial Communication Interfaces (USCIs)
    • USCI_A0 and USCI_A1
      • Enhanced UART Supporting Auto-Baud-Rate Detection (LIN)
      • IrDA Encoder and Decoder
      • Synchronous SPI
    • USCI_B0 and USCI_B1
      • I2C™
      • Synchronous SPI
  • Supply Voltage Supervisor/Monitor With Programmable Level Detection
  • Brownout Detector
  • Bootstrap Loader
  • Serial Onboard Programming, No External Programming Voltage Needed  
    Programmable Code Protection by Security Fuse
  • MSP430F2619S  
    120 kB + 256 B Flash Memory, 4 kB RAM
  • Available in 64-Pin QFP and KDG Packages
  • For Complete Module Descriptions, Refer to the MSP430x2xx  
    Family User’s Guide (SLAU144)
  • APPLICATIONS
    • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site
    • One Fabrication Site
    • Extended Product Life Cycle
    • Extended Product-Change Notification
    • Product Traceability
    • Texas Instruments high temperature products utilize highly optimized silicon (die)  
      solutions with design and process enhancements to maximize performance over extended  
      temperatures.

Список литературы


  1. Кудреватых Е.Ф.  «Общие принципы измерения характеристик электронных устройств» URL: http://kipinfo.ru/info/stati/?id=11 .
  2. Мирский Г.Я. Электронные измерения: 4-е изд., перераб. и доп. – М.: Радио и связь, 1986. – 440 с., ил. ББК 32.842, УДК 621.317.3(024).
  3. Википедия URL: http://ru.wikipedia.org/
  4. Проектирование автоматизированных систем измерения, контроля и управления РЭС: Учебное пособие. Казань: Изд-во Казан. гос. техн. ун-та, 1999. 40 с. УДК 681.518.3
  5. Texas Instruments, URL: http://www.ti.com/

 


Информация о работе Автоматизированная система измерения амплитудных и амплитудно-частотных характеристик усилителей