Методи та засоби вимірювань механічних зусиль

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 14 Мая 2013 в 00:12, курсовая работа

Описание работы

Із механічних величин, які вимірюються найчастше, основними є механічні зусилля, які поділяються на зосереджені, зокрема спрямовані лінійно (механічні сили) та обертові (крутні моменти), а також розподілені зовнішні зусилля (тиск) та внутрішні розподілені зусилля, що виникають в тілі досліджуваного об'єкта (механічні напружен¬ня).
Діапазон вимірюваних механічних засиль дуже великий. Так, під час наукових досліджень доводиться вимірювати сили, починаючи від 10̄ ̄5... 10 ̄6 (i навіть менше), а під час промислових вимірювань - до 109 Н. Внутрішні напруження в деталях різних кон¬струкцій лежать в межах до 2000 МПа.

Содержание работы

Введення
Методи та засоби вимірювання механічних зусиль :
Розрахунки:
вимірювання ВАХ p-n структур ;
вимірювання профілю розподілу концентрації домішок по товщині шару напівпровідника вольт-фарадним методом.
Висновок
Література
Додаток

Файлы: 1 файл

РГР текст.docx

— 524.09 Кб (Скачать файл)

вольтметру установки на позначці „0” шкали.

    4. Послідовно збільшуючи напругу на діоді спочатку на 0,2В, а після 1В на 2В, зняти пряму галузь ВАХ діода.

    5. Установити перемикач В у положення 2 (зворотне включення діода).

    6. Послідовно збільшуючи зворотну напругу на  2В, зняти зворотну галузь ВАХ діода.

    7. Повторити п.п. 2 – 6 ще для чотирьох діодів.

    8. По експериментальним точкам побудувати ВАХ діодів.

 

Обробка результатів вимірювання

   

    1.Для кожного значення напруги розрахувати середні арифметичні            

        значення струму діодів

     2. Обчислити середньоквадратичне відхилення для кожного виміру струму                         

        по формулі:  

 

                                                   (1)    

        n – кількість вимірювань;

        xi – i-те  значення виміру.

          x̅- середнє арифметичне значення струму.

      3. Використовуючи побудовані ВАХ розрахувати коефіцієнти випрямлення

        кожного з діодів при різних  значеннях напруги (К = Iпр / Iзв при Uпр = Uзв,      

       де  Iпр і Iзв – відповідно прямий та зворотний струм, який тече через діод;      

       Uпр і Uзв – відповідно пряма та зворотна напруга, що прикладаються до 

      діода).Коефіцієнти випрямлення

  

                                            Зворотнє включення діодів

№п/п

Uзв.В

Ізв,мкА

x̅,мкА

Sx,мкА

0

0

0

0.138

0,263

1

0,2

0,00012

2

0,4

0,00012

3

0,6

0,00012

4

0,8

0,00012

5

1

0,00012

6

2

0,00012

7

4

0,00012

8

6

0,00012

9

8

0,00012

10

10

0,00028

11

12

0,00034

12

14

0,00041

13

16

0,00065

14

18

0,00083

15

20

0,00150

16

22

0,03000

17

24

0,05800

18

26

0,12000

19

28

0,92000

20

30

1,62000


 

 

 

 

 

                                          Пряме включення діодів

№ п/п

Uпр,B

Iпр,мA

x̅,мА

Sx,мА

0

0

0

15,44

23,03

1

0,2

0,12

2

0,4

0,22

3

0,6

0,32

4

0,8

22

5

1

70



 


 

 

 

 

 

 

                                        

 

 

№п/п

U,B

Iпр,мА

Iзв,мкА

Квипр.

1

0,2

0,12

0,00012

1000,0

2

0,4

0,22

0,00012

1833,3

3

0,6

0,32

0,00012

2666,6

4

0,8

22

0,00012

183333,3

5

1

70

0,00012

583333,3




 

 

 

 

 

 

 

        Графіки  ВАХ при прямому та зворотному включенні діода наведені в  

       додатках

    4. Вибравши дві довільні точки на лінійній дільниці прямої та зворотної гілки

       ВАХ, розрахувати для діода диференційний опір для прямого та

       зворотного включення по формулі:

             Rд = dU / dI ≈ ∆U / ∆I = (U2 – U1) / (I2 – I1).                          (2)

       Для прямої  гілки

             Rд  = (1 В – 0,8 В)/ (70*10–3 А – 22*10–3 А) = 4 Ом

       Для зворотної  гілки

             Rд  = (28 В – 26 В)/ (0,81*10–6 А – 0,13*10–6 А) = 2512367 Ом

 

 

3.2.Вимір  профілю розподілу концентрації  домішок по товщині шару напівпровідника  вольт-фарадним методом

    Опис вимірювальної установки

    Вимірювання ємностей  структур здійснюється за допомогою установки для зняття ВФХ напівпровідникових діодів типу UED-1-1000, схема якої приведена на рис. 13.

    Постійний резистор R1 і змінний резистор R2 задають напругу на випробувуваному варикапі ИД, що складається з постійної і змінної складових. Rн - опір навантаження. Вольтметром V1 виміряють напругу джерела Есм. Вольтметром V2 виміряють напругу на Rн, що пропорційна величині ємності ИД. Перемикач П служить для поперемінного підключення до вимірювального ланцюга ИД (положення 2) і еталонного конденсатора Сэ.

 

 Р                                     Рис 13. Схема вимірювання ємності діода методом ємнісно-омічного  

          дільника:

            ИД – випробовуваний діод (варикап);

            Есм – джерело постійної напруги;

            Сэ – еталонний конденсатор;

            Ср – розділовий конденсатор;

            П- перемикач.

    Сутність методу ємнісно-омічного дільника полягає в наступному. Частота змінного сигналу, що подається від генератора високої частоти (рис.13), вибирається такий, що струм у вимірювальному ланцюзі визначається реактивним опором ємності випробовуваного діода, а активний опір діода виключається (відповідно до еквівалентної схеми діода місткість діода Сд і його активний опір Rн включені паралельно). Звичайно від генератора високої частоти на ИД подається змінний сигнал з частотою  f=1МГц. При такій умові зменшення напруги на Rн буде пропорційний ємності Сд. Підключив за допомогою перемикача П замість випробовуваного діода ИД еталонний конденсатор Сэ, проводять градуювання шкали вольтметра V2 що виміряє зменшення напруги на навантаженні Rн в одиницях ємності. Ємність, що виміряється:

 



 

 

 СЭ– ємність еталонного конденсатора;

  UЭ – напруга на опорі навантаження при включенні еталонного конденсатора;

  UД – напруга на опорі навантаження при включенні діода, що виміряється.

 

   Порядок проведення роботи

1)Включити  установку в мережу і дати  їй прогрітися не менш 15 хвилин. 2)Підключити випробовуваний напівпровідниковий діод (запропонований викладачем) до вимірювальної установки.

3)Не подаючи  напругу на діод, по шкалі вимірювального  приладу оцінити бар'єрну ємність  діода при U=0В. Повторити вимірювання ємності     діода при зворотній напрузі 0В ще чотири рази. Розрахувати середнє значення ємності діода при зворотній напрузі 0В.

4)Подати на діод зворотну напруга 0,5В і виміряти значення ємності діода. Повторити вимірювання ємності діода при зворотній напрузі 0,5В ще чотири рази. Розрахувати середнє значення ємності діода при зворотній напрузі 0,5В.

5)Послідовно  збільшуючи напругу з кроком 0,5В,  зробити виміри  ємності діода  аж до 10В, виконуючи   вимірювання  п'ять разів для кожного значення  зворотної напруги та розраховуючи  середнє значення ємності.

6)Задані  значення зворотної напруги, обмірюваної  ємності Сб, Cб(сер)  і Cб-2(сер)   занести в таблицю:

 

 

 

Uзв,B

Сб,пФ

Cб-2,пФ

0,0

86,2

0,000137

0,5

74,2

0,000192

1,0

53,1

0,00036

1,5

49,2

0,000415

2,0

43,2

0,000533

2,5

40,1

0,000619

3,0

37,5

0,000704

3,5

34,8

0,000821

5,0

30,2

0,001082

7,0

27,3

0,001362

10,0

23,0

0,001924

15,0

18,7

0,00286

20,0

16,7

0,003543

25,0

15,3

0,004272

30,0

13,9

0,005176

35,0

13,4

0,005569

40,0

12,5

0,006299


 

 

7)Побудувати  графічні залежності  Cб(сер) від U  і Cб-2(сер)  від U.

8)Зробити  графічне диференціювання залежності  Cб-2(сер)(U) у декількох крапках (не менш десяти) і по формулах (5), (7) і, з урахуванням формули (8)(див.методичні рекомендації),визначити значення N і х. Тобто для кожного розрахованого середнього значення концентрації знаходять величину розширення області просторового

заряду х1(сер), х2(сер), х3(сер) і т.д.

Примітка: При розрахунках з використанням формул (5), (7), (8),використовувати середні значеня бар'єрної ємності діода, розраховані для кожного значення зворотної напруги.

9)Побудувати графічну залежність N(x).

10)Оцінити середнє квадратичне відхилення для кожного виміру величини Сб, використовуючи формулу (3).

 

Глибина, Х *10(-6)см

Концентрація,N*10^(21)

0,95

23,91

0,88

21,6

0,81

20,23

0,76

19,6

0,72

16,8

0,67

15

0,62

12,3

0,58

10


 

      Cереднє квадратичне відхилення    =18,8375

 

 

                                                 Висновок

     У данній курсовій роботі я проаналізував теоретичне завдання на тему : «Методи  вимірювання механічних зусиль».

    По першій задачі я розрахував  коефіцієнти випрямлення кожного з діодів  при різних значеннях напруги К випр=0; 1000; 1833,333; 2666,667; 183333; 583333,3при таких значеннях напруги U = 0; 0,2; 0,4; 0,6; 0,8; 1 відповідно. Розрахував   для діода диференційний опір для прямого та зворотного включення Rд  = 4 Ом – для прямої гілки, Rд  = 2512367 Ом – Для зворотної гілки. Побудував графіки ВАХ для прямого та зворотного підключення діоду.

    У другій задачі я розраховув концентрацію та глибину Х =(0,95; 0,88; 0,81;  

  0,76; 0,72; 0,67; 0,62;0,58) *10(-6)см, N=(23,91; 21,6; 20,23; 19,6; 16,8; 15;

  12,3;10) *10^(18) відповідно. Побудував графіки залежності залежності Сб від U

  і Cб-2 від U, графічну залежність N(x).

Информация о работе Методи та засоби вимірювань механічних зусиль