Автор работы: Пользователь скрыл имя, 06 Декабря 2013 в 05:31, реферат
В сканирующих зондовых микроскопах исследование микрорельефа
поверхности и ее локальных свойств проводится с помощью специальным образом приготовленных зондов в виде игл. Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры порядка десяти нанометров. Характерное расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах по порядку величин составляет 0,1 – 10 нм. В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью.
Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов
Сканирующие элементы (сканеры) зондовых микроскопов
Нелинейность пьезокерамики.
1.2.2 Крип пьезокерамики и гистерезис пьезокерамики.
Литература