Спектрометр
рентгеновский кристалл-дифракционный
вакуумный «Спектроскан Макс GV»
Спектрометр предназначен для определения содержания
химических элементов в различных веществах,
находящихся в твердом, порошкообразном
или растворенном состояниях, а также
нанесенных на поверхности и осажденных
на фильтры. Спектрометр может применяться
в различных отраслях наукии техники для
анализа элементного состава вещества.
Аналитические характеристики
Диапазон определяемых
элементов |
от 11Ca до 94Pu |
Типы образцов |
жидкие, твердые, порошки, фильтры,
пленки |
Пределы обнаружения,
L для лёгкой матрицы
(экспозиция - 100 сек) |
Na — 1x10-1 %, Mg, — 1x10-2 %, Al — 1x10-3 %,
Si — 5x10-4 %, P — 5x10-4 %, Cd, Pb — 5x10-4 %
S, Ti, V, Cr — 1x10-4 %,Co, Ni — 5x10-5 %, |
Диапазон определяемых содержаний
без специальной пробоподготовки
со специальной пробоподготовкой |
от 3L до 100%
от 0,005 L |
Способ выделения
линий спектра |
дифракция на кристалле |
Время количественного
анализа пробы |
от 3 минут |
Время одного элементоопределения |
от 10 до 100 секунд |
Рентгенооптическая
схема |
по Иоганссону |
Энергетическое
разрешение |
9 эВ (Si Ka) 60 эВ ( Fe
Ka) |
Собственная аппаратурная
погрешность |
0,5 % |
Характеристики
Напряжение
на аноде рентгеновской трубки -
(max) |
50 кВ |
Кристалл-анализаторы
по Иогану и Иогансону |
LiF(200), C, PET, KAP, ML
(44E) |
Пробозагрузочное
устройство |
Автоматическое
на 10 образцов с вращением диаметром до 40
мм |
Радиационная
безопасность |
освобождён
от регламентации по радиационному
фактору |
Габаритные
размеры и масса:
Спектрометрический блок
блок высоковольтного источника питания
блок вакуумного насоса |
550ґ450ґ450 мм; 70 кг
240ґ440ґ450 мм; 30 кг
130ґ200ґ320 мм; 15 кг |
Питание
Потребляемая мощность от сети 220 B |
~220 В, 50 Гц, ~ 380 В
850 Вт |
Интерфейс с
ЭВМ |
RS-232 |
Анализатор содержания
серы в нефти и нефтепродуктах «Спектроскан
S»
Рентгенофлуоресцентный
энергодисперсионный анализатор предназначен
для определения массовой доли серы
в нефти и нефтепродуктах в
соответствии с ГОСТ Р 51947-2002, ASTM D 4294-98.
Конструктивные особенности
- Уникальное боковое расположение кюветы с пробой в кюветном отделении.
- Исключена необходимость в дополнительной защите от пролива пробы.
- Проба расположена максимально близко к трубке и детектору.
- Встроенные компьютер, клавиатура, дисплей, принтер.
Аналитические параметры
Определяемый
элемент |
S (сера) |
Нижний предел
обнаружения за 200 с |
5 ppm |
Нижний предел
количественного определения |
0.002% |
Рабочий диапазон
концентраций |
Два диапазона
- до 0,1%; от 0,1% до 5% |
Верхний предел
определения |
Не ограничен |
Способ выделения
линии серы |
Энергодисперсионный
канал со спектральными фильтрами |
Собственная аппаратурная
погрешность |
<0,5% относительных |
Время измерения двух параллельных
проб (1 образец) |
От 2 минут |
Время экспозиции |
От 10 до 100 с |
Технические параметры
Пробозагрузочное
устройство |
Боковое, на один
образец |
Кюветы: диаметр,
объем |
диаметр 32 мм, V
от 5 до 8 см 3 |
Мощность рентгеновской
трубки |
P =0,75 Вт |
Интерфейс |
Встроенный
дисплей и термопринтер (лента 56
мм) |
Габаритные
размеры и масса |
335 x 310 x 160 мм, 8 кг |
Энергопотребление |
220 В, ~ 50 Гц , 100 Вт |
Приборы
фирмы «Helmut Fischer»
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 120
Высокопроизводительный
рентгенофлуоресцентный спектрометр
для неразрушающего анализа состава
сплавов из золота и серебра.
Особенности
- Предназначен для экономичного анализа сплавов из золота
- Фиксированный размер коллиматора и фиксированный фильтр позволяют осуществлять анализ драгоценных металлов
- При использовании совместно с полупроводниковым детектором применим для более комплексного анализа
- Измерение производится снизу вверх, что дает возможность быстрого и простого позиционирования образца
Области применения
- Анализ золота и драгоценных металлов в области изготовления ювелирных изделий и часов
- Стоматологический сплав
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220
Рентгенофлуоресцентный
спектрометр для быстрого и неразрушающего
анализа состава сплавов золота и серебра.
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
Высокопроизводительный
рентгенофлуоресцентный спектрометр для неразрушающего
измерения толщины покрытий и анализа
состава материалов.
Особенности
- Универсальный прибор премиум класса с широкими возможностями измерений
- Полностью закрытая измерительная камера
- Направление измерения снизу вверх дает возможность быстрого и простого позиционирования образца
- Высокая гибкость измерений за счет размера измерительного пятна и спектрального состава
- Возможность обработки высоких мощностей, более 100 килоимпульсов в секунду, без потери разрешающей способности энергии при помощи датчика SDD (silicon drift detector)
- Идеален для анализа золотых сплавов и для анализа на микроэлементы для выявления опасных веществ в пластике
Области применения
- Анализ драгоценных металлов и золота в области изготовления ювелирных изделий и часов
- Измерение тонких покрытий (нанометрового диапазона) из серебра и палладия на печатных платах и электронных компонентах
- Анализ на микроэлементы, например, исследование опасных веществ в электронных компонентах и механизмах RoHS
- Анализ легких элементов,таких,как алюминий, кремний, фосфор
- Общий анализ материалов и измерение толщины покрытий.
FISCHERSCOPE X-RAY XA® 250
Высокопроизводительный рентгенофлуоресцентный
спектрометр для быстрого и неразрушающего
анализа состава материалов и измерения
толщины покрытий.
Особенности
- Универсальный прибор премиум класса с широкими возможностями измерений
- 4 сменных коллиматора и 6 сменных фильтров
- При использовании совместно с полупроводниковым детектором применим для более комплексного анализа
- Измерения производятся снизу вверх, что дает возможность быстрого и простого позиционирования образца
Области применения
- Измерение функциональных покрытий от нескольких нанометров в электронной и полупроводниковой промышленности
- Анализ на микроэлементы в целях защиты потребителей, к примеру, выявление свинца в составе игрушек
- Анализ состава сплавов при очень высоких требованиях точности в ювелирной и часовой промышленности и при переработке металлов
- Исследовательская деятельность в университетах и в промышленности
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Рентгенофлуоресцентный спектрометр
с программируемым измерительным столом
(X/Y - платформа) и перемещением измерительного
модуля (трубка с детектором, ось Z) по вертикали
для автоматического неразрушающего измерения
толщины покрытий и анализа состава материалов
Особенности
- При помощи полупроводникового детектора расширены возможности элементного анализа и измерений тонких поверхностей, благодаря оптимальному сотношению сигнал/шум
- Микрофокусная трубка обеспечивает маленькие размеры измерительного пятна, но в связи с более низкой мощностью, менее подходит для несложных структур
- Большая и просторная измерительная камера с выключателем (C-slot)
- Быстрая, программируемая XY-платформа выдвигается за пределы измерительной камеры для простоты позиционирования образца
Области применения
- Анализ материалов покрытий и сплавов(также очень тонких покрытий и растворов электролитов)
- Анализ поступающей продукции и контроль в процессе производства
- Научно-исследовательская работа
- Электронная промышленность
- Разъемы и контакты
- Производство ювелирных изделий, золота и часов
- Измерение тонких покрытий из серебра и палладия при производстве печатных плат
- Анализ на микроэлементы
- Определение свинца для приборов "высокой надежности"
- Анализ покрытий твердых материалов
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Высокоэффективный
рентгенофлуоресцентный спектрометр
с программируемым измерительным
столом (X/Y - платформа) и перемещением
измерительного модуля (трубка с детектором,
ось Z) по вертикали для неразрушающих
измерений толщин очень тонких покрытий
и микроэлементного анализа.
Особенности
- Модель премиум класса с универсальными характеристиками
- Высокая гибкость измерений за счет размера измерительного пятна и спектрального состава
- Возможность обработки высоких мощностей, более 100 килоимпульсов в секунду, без потери разрешающей способности энергии при помощи датчика SDD (silicon drift detector)
- Очень низкие пределы обнаружения и отличная повторяемость
- Большая измерительная камера
- Автоматические измерение серий образцов при помощи программируемого измерительного стола (X/Y - платформа)
Области применения
- Измерение очень тонких покрытий, например, в электронной и полупроводниковой промышленности
- Анализ на микроэлементы, распознавание опасных веществ в соединениях в соответствии с правилами ограничения содержания вредных веществ (RoHS), нормами производства игрушек, нормами упаковки
- Высокоточный анализ золота и драгоценных металллов
- Фотогальваническая промышленность
- Измерение толщины и состава NiP покрытий
FISCHERSCOPE X-RAY XUV 773
Высокопроизводительный
рентгенофлуоресцентный спектрометр с вакуумной камерой для
неразрушающего измерения толщины покрытий
и анализа состава материалов.
Особенности
Универсальный прибор премиум класса с широкими возможностями
измерений
- Измерительная камера с возможностью вакуумирования позволяет анализировать легкие элементы от Z=11 (Na)
- Автоматический контроль партий изделий при помощи прецизионного программируемого измерительного стола.
- Видеокамера для точного позиционирования образцов и для измерений маленьких образцов.