Применение просвечивающего электронного микроскопа

Усиление интереса к электронной микроскопии объясняется рядом обстоятельств. Это, во-первых, расширение возможностей метода благодаря появлению самых различных приставок: для исследований при низких (до – 150°С) и высоких (до 1200°С) температурах, наблюдения деформации непосредственно в микроскопе, исследования рентгеновских спектров микроучастков (до 1 мкм и менее) объектов, получения изображений в рассеянных электронах и др. Во-вторых, существенное повышение (до 1 Å и менее) разрешающей способности электронных микроскопов, что сделало их конкурентоспособными с автоионными микроскопами в получении прямых изображений кристаллической решетки.

Введение
1. Историческая справка
2. Просвечивающая электронная микроскопия
2.1 Источники электронов
2.2 Система освещения
2.3 Коррекция астигматизма
2.4 Вспомогательное оборудование для ОПЭМ
3. Применение просвечивающего электронного микроскопа
3.1 Небиологические материалы
3.2 Биологические препараты
3.3 Высоковольтная микроскопия
3.4 Радиационное повреждение
4. Современные виды ПЭМ
Заключение
Список литературы