Автор работы: Пользователь скрыл имя, 14 Ноября 2013 в 08:52, реферат
К объективным относят такие тесты, в которых возможен правильный ответ (соответственно, все прочие считаются ошибочными). Измеряемые ими психологические характеристики относятся к категории общих (интеллектуальных) и специальных способностей (в англоязычной литературе – abilities, aptitudes).
L(x,y;σ)=G(x,y;σ)∗I(x,y), (5
где: σ>0 — параметр сглаживания, символ
«∗» означает свертку, а G(x,y;σ) — двумерная функция Гаусса.
В [5] рассматриваются срезы простран
В качестве точек интереса предлагаются
точки, соответствующие локальным
экстремумам функции:
D(x,y;σ)=L(x,y;kσ)−L(x,y;σ).
Для получения S срезов пространства переменного
масштаба вычисляется свертка исходного
изображения с ядром Гаусса с последовательно
изменяющимся параметром сглаживания σ0,kσ0,…,kSσ0. Далее находятся локальные
экстремумы функции D(x,y,σ). Для этого значение функции D(x,y,kiσ0) в каждой точке (x,y) сравнивается со значениями
в восьми соседних пикселях при том же
значении параметра масштаба, а также
в 18-ти соседних пикселях, принадлежащих
предыдущему и последующему срезам пространства
переменного масштаба. Локальные экстремумы,
в которых значение |D(x;σ)| не превосходит некоторый заданный
порог, отбрасываются. Затем строится
матрица H вторых частных производных
(Гессиан) функции D(x,y,σ) . Если величина tr(H)2/det(H) меньше некоторого порога, то
точка считается характерной.
Рис. 1. Схема построения детектора SIFT
Детектор SURF [6] использует ту же идею пространства
переменного масштаба, что и детектор
SIFT, но функция Гаусса в выражении
(5) приближается прямоугольным фильтром
9×9. На рис.2 показаны фильтры для
получения частных производных
исходного изображения I(x,y) п
det(Happrox)=IxxIyy–(0,9Ixy)2.
Рис. 2. Фильтры для нахождения второй
производной яркости
В середине 2000-х годов, в связи
с возросшим спросом на решение
задач компьютерного зрения в
реальном времени, появились эвристические
алгоритмы быстрого поиска точек
интереса. Наиболее ярким представителем
данного класса алгоритмов является
алгоритм FAST (features from accelerated segment
test — особенности, полученные
из ускоренной проверки сегментов) [8].
Этот алгоритм не требует вычисления производных
яркости. На рис.3 показана анализируемая
точка и окружающие ее пиксели. Яркость
пикселей, лежащих на окружности, сравнивается
с яркостью центральной точки и на основании
ряда проверок принимается решение, является
ли центральная точка характерной. Последовательность
проверок и их общее число подбираются
и оптимизированы заранее на основе обширной
обучающей выборки изображений. В результате
проверки выполняются очень быстро. Для
принятия решения, является точка углом
или нет, требуется лишь несколько десятков
операций сравнения. Алгоритм FAST хорошо
зарекомендовал себя в приложениях, осуществляющих
слежение за объектами в реальном времени
[9].
Рис. 3. Пиксели, используемые в быстрых проверках алгоритма FAST
1. Moravec H. Rover visual obstacle avoidance // Proc. Intl. Joint Conference on Artificial Intelligence. – 1981. – P. 785–790.
2. Forstner W. A feature based correspondence algorithm for image matching // Intl. Archives of Photogrammetry and Remote Sensing. – 1986. – V. 26. – P. 150–166.
3. Harris C. G., Stephens M. J. Combined corner and edge detector // Proc. Fourth Alvey Vision Conference. – 1988. – P. 147–151.
4. Shi J., Tomasi C. Good features to track // Proc. IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition. – 2004. – P. 593–600.
5. Lowe D. G. Object recognition from local scale-invariant features // Proc. Intl. Conference on Computer Vision. – 1999. – P. 1150–1157.
6. Bay H., Ess A., Tuytelaars T., Van Gool L. SURF: Speeded up robust features // Computer Vision and Image Understanding. – 2008. – V. 110. – P. 346–359.
7. Lindeberg T. Junction detection with automatic selection of detection scales and localization scales // Proc. First Intl. Conference on Image Processing. –1994. – V.1. – P. 924–928.
8. Rosten E., Drummond T. Machine learning for high-speed corner detection // Proc. European Conference on Computer Vision. – 2006. – V. 1. – P. 430–443.
9. Taylor S., Rosten E., Drummond T. Robust feature matching in 2.3 μs // Proc. IEEE CVPR Workshop on Feature Detectors and Descriptors: The State Of The Art and Beyond. – 2009. – P. 15–22.
Информация о работе Искажение результатов объективных тестов: источники и способы выявления