Испытание и контроль качества в производстве

Электрический    Электрический      Электропотенциальный       Электростатический

         Трибоэлектрический               с порошковый

                          Электроемкостный      Электропараметриметрический

             Термоэлектрический             

                                            Электроискровой

                                                   Рекомбинационого излучения

                                                   Экзоэлектронной   эмиссии

                                                   Шумовой

                                                   Контактной разрядности потенциалов

                                                 

Вихретоковый    Прошедшего из      Амплитудный        Трансформатор

в         лучения           Фазовый          

             Отраженного из     Частотный          Параметрический

             лучения            Спектральный

                                Многочастотный

Радиоволновый     Прошедшего         Амплитудный        Детекторный

      излучения          Фазовый            (диодный)

             Отраженного        Частотный          Болометрический

             излучения          Временной          Термисторный

             Рассеянного        Поляризационный       Интерференционный

             Излучения

             Резонансный        Геометрический     Голографический

                                                   Жидких кристаллов

                                                   Термобумаг

                                                   Термолюмино форов

 

                                                                    

                                                    Продолжение табл. 1.2

 

                                  Классификация методов НК

 

       Вид         по характеру

                                                               по способу

                  взаимодействия       по  первичному

     контроля                                                  получения

                физических полей      информативному

                                                               первичной

                с контролируемым         параметру

                                                              информации

                     объектом

                                                       Фотоуправляемых

                                                       полупроводнико

                                                       вых пластин

                                                       К алориметриче

                                                       ский

Тепловой        Тепловой кон        Термометриче       Пирометрический

                тактный             ский               Жидких кристал

                К онвективный       Теплометриче       лов

                Собственного из     ский               Термокрасок

                лучения                                Термобумаг

                                                       Термолюмино

                                                       форов

                                                       Термозависимых

                                                       параметров

                                                       Оптический ин

                                                       терференционный

                                                       К алориметриче

                                                       ский

Оптический Прошедшего из            Амплитудный        Интерференцион

           лучения                  Фазовый            ный

           Отраженного из           Временной          Нефелометриче

           лучения                  Частотный          ский

           Рассеянного из           Поляризацион       Голографический

           лучения                  ный                Рефрактометриче

           Индуцированного          Геометрический     ский

           излучения                Спектральный       Рефлексометриче

                                                       ский

                                                       Визуально оптический

Акустический        Прошедшего из       Амплитудный        Пьезоэлектрический            лучения             Фазовый         

                Отраженного из      Временной          Электромагнитные лучения (эхо       Частотный          акустический  метод)              Спектральный       Микрофонный

                Резонансный                            Порошковый   Импедансный

                Свободных колебаных   Акустико эмиссионный

 

 

 

                                                     Окончание табл. 1.2

 

                              К лассификация методов НК

 

    Вид          по характеру                              по способу

  контроля      взаимодействия       по  первичному

                                                           получения

              физических полей с    информативному

                                                           первичной

               контролируемым          параметру

                                                          информации

                   объектом

Радиацион    Прошедшего из   Плотности потока        Сцинтилляцион

ный          лучения         энергии                 ный

             Рассеянного из  Спектральный            Ионизационный

             лучения                                 Вторичных

             Активационного                          электронов

             анализа                                 Радиографический

             Характеристиче                          Радиоскопический

             ского излучения

             Автоэмиссионный

   К лассификация  методов контроля проникающими  веществами

                  (капиллярных и течеискания)

             Молекулярный          Жидкостный        Яркостный  (ахро

                                   Газовый           матический)

                                                     Цветной (хрома

                                                     тический)

                                                     Люминесцентный

                                                     Люминесцентно

                                                     цветной

                                                     Фильтрующихся

                                                     частиц

                                                     Масс спектромет

                                                     рический

                                                     Пузырьковый

                                                     Манометрический

                                                     Галогенный

                                                     Радиоактивный

                                                     К аторометриче

                                                     ский

                                                     Высокочастотного

                                                     разряда

                                                     Химический

                                                     Остаточных устой

                                                     чивых деформа

                                                     ций

111Примечание. Под  видом НК понимают условную  группировку методов НК , объединенную общностью физических принципов, на которых они основаны.

111При классификации  по характеру взаимодействия  физических полей или веществ с контролируемым объектом подразумевается непосредственное взаимодействие поля или вещества с контролируемым объектом, но не с проникающими веществами.

111Под первичным  информационным параметром подразумевается  одна из основных характеристик  физического поля или проникающего  вещества, регистрируемая после  взаимодействия этого поля или  вещества с контролируемым

объектом.

   Например, электродвижущая сила, возникающая при нагреве разно

родных материалов, позволяет контролировать химический состав материалов (термоэлектрический эффект).

  2. Первичный  информативный параметр – конкретный  параметр поля или вещества (амплитуда  поля, время его распространения,  количество вещества и т. д.), изменение которого используют

для характеристики контролируемого объекта.

   Например, наличие несплошности увеличивает  или уменьшает амплитуду прошедшего  через нее излучения.

   3. Способ  получения первичной информации  – конкретный тип датчика или вещества, которые используют для измерения и фиксации выбранного информационного параметра.

   Дефектоскопия  – наука о принципах, методах  и средствах обнаружения дефектов. Под дефектоскопией понимают  также комплекс физических методов и средств выявления дефектов в материале заготовок, полуфабрикатов и деталей (в том числе и деталей в сборе),а также в сварных швах, клепаных и паяных соединениях и др.

 

                      1. Магнитный вид НК

 

   Магнитный  вид НК основан на анализе  взаимодействия магнитного поля с контролируемым объектом. Использует свойство металла быстро намагничиваться и размагничиваться или создавать разную магнитную индукцию в местах дефекта.

   Как правило,  применяется для контроля объектов  из ферромагнитных материалов (обнаружение поверхностных и скрытых дефектов). Процесс намагничивания и перемагничивания ферромагнитно

го материала  сопровождается гистерезисными явлениями. Свойства, которые требуется контролировать (химический состав, структура ,наличие несплошностей и др.), обычно связаны с параметрами процесса намагничивания и петлей гистерезиса.

   Характер  взаимодействия физического поля  с объектом. Используется намагничивание  объекта и измеряются параметры,  используемые при контроле магнитными  методами.

   Информативные параметры:

   1) магнитная  проницаемость, намагниченность,  остаточная намагниченность –  используются для характеристики  материала ферромагнетика (например, для контроля степени закалки  стали, ее

прочностных характеристик  и других свойств);

   2) намагниченность насыщения – используется для определения наличия и количества ферритной составляющей в неферромагнитном материале (величина намагниченности насыщения тем больше,

чем больше содержание феррита);

   3) сила, которую  необходимо приложить, чтобы оторвать пробный магнит от объекта контроля – используется для оценки потока

магнитного поля (например, чтобы измерить толщину  неферромагнитного покрытия на ферромагнитном основании);

   4) напряженность  магнитного поля – используется  для измерения (другим способом) толщины неферромагнитного покрытия наферромагнитном основании;

   5) градиент  напряженности магнитного поля  – используется длявыявления  дефектов несплошности.

   Методы  магнитного контроля основаны  на использовании магнитных полей,  создаваемых путем намагничивания контролируемых изделий. К ним относятся:

   1. Индукционный  – информацию о магнитной проницаемости  и ее изменении в зависимости от напряженности магнитного поля получают с помощью катушки индуктивности. Применяется преимущественно для обнаружения раковин, непроваров и других скрытых

дефектов. Существенным недостатком индукционного метода контроля является его малая чувствительность к поверхностным дефектам типа волосовин, шлаковых включений и т.д.

   2. Магнитопорошковый  – основан на использовании местного изменения магнитной проницаемости, обусловленного дефектом. Информацию о наличии дефекта в поверхностном и под поверхностном слоях

ферромагнитного материала получают с помощью  магнитного порошка. Этим способом можно  выявить как поверхностные, так и внутренние дефекты (резко выраженная структурная неоднородность, дефекты

сварочного шва, крупные раковины и включения). Глубина  залегания дефекта – не более 2–3 мм от поверхности, размер дефекта – от 0,5×2,5 мм. Частицы магнитного порошка располагаются вдоль линий

магнитной индукции поля рассеяния. Вблизи дефекта обнаруживается градиент магнитного поля. Для надежного выявления дефект должен