Дифракция рентгеновских лучей кристаллическим веществом

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 14 Ноября 2013 в 15:55, реферат

Описание работы

При взаимодействии атомов кристаллической решетки с проходящим через них рентгеновским излучением имеет место дифракционный эффект, при котором по определенным направлениям возникают вторичные (дифрагированные) лучи. Рассмотрим явление дифракции как отражение от определенных серий плоскостей.

Файлы: 1 файл

Конструкции рентгеновских аппаратов.docx

— 85.28 Кб (Скачать файл)

Идентификация глинистых  минералов производится преимущественно  по отражениям от так называемых базальных  плоскостей, которые имеют индексы 001. Поскольку глинистые минералы обычно тонкодисперсны и часто плохо  окристаллизованы, очень важно, чтобы  максимальное число кристаллитов попало в отражающее положение в малоугловой  области, в которой регистрируется большинство базальных рефлексов. Для этого готовят так называемые ориентированные препараты, т. е. такие  образцы, в которых максимальное число частиц ориентировано базальными гранями в одном направлении.

В ряде случаев бывает необходимо получать от глинистых минералов  не только базальные, но и другие рефлексы. При работе методом камерной съемки небазальные (общие) отражения получают при съемке неориентированных препаратов, а также при вращении столбика образца в камере вокруг своей  оси.

При диагностике глинистых  минералов по рентгенограммам необходимо учитывать, что ряд глинистых  минералов дает сходный набор  рефлексов. Для того чтобы правильно  идентифицировать эти минералы, применяют  систему обработок: насыщение минералов  глицерином или этиленгликолем, прокаливание при различных температурах, насыщение  различными катионами и другие.

Поскольку кристаллические  решетки различных глинистых  минералов по-разному реагируют  на указанные обработки, этот прием  позволяет более точно диагностировать  глинистые минералы в смеси.


Информация о работе Дифракция рентгеновских лучей кристаллическим веществом