Автор работы: Пользователь скрыл имя, 14 Ноября 2013 в 15:55, реферат
При взаимодействии атомов кристаллической решетки с проходящим через них рентгеновским излучением имеет место дифракционный эффект, при котором по определенным направлениям возникают вторичные (дифрагированные) лучи. Рассмотрим явление дифракции как отражение от определенных серий плоскостей.
Идентификация глинистых
минералов производится преимущественно
по отражениям от так называемых базальных
плоскостей, которые имеют индексы
001. Поскольку глинистые минералы
обычно тонкодисперсны и часто плохо
окристаллизованы, очень важно, чтобы
максимальное число кристаллитов попало
в отражающее положение в малоугловой
области, в которой регистрируется
большинство базальных
В ряде случаев бывает необходимо получать от глинистых минералов не только базальные, но и другие рефлексы. При работе методом камерной съемки небазальные (общие) отражения получают при съемке неориентированных препаратов, а также при вращении столбика образца в камере вокруг своей оси.
При диагностике глинистых минералов по рентгенограммам необходимо учитывать, что ряд глинистых минералов дает сходный набор рефлексов. Для того чтобы правильно идентифицировать эти минералы, применяют систему обработок: насыщение минералов глицерином или этиленгликолем, прокаливание при различных температурах, насыщение различными катионами и другие.
Поскольку кристаллические
решетки различных глинистых
минералов по-разному
Информация о работе Дифракция рентгеновских лучей кристаллическим веществом