Описание и применение кристаллических модификаций кварца

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 25 Ноября 2014 в 22:40, курсовая работа

Описание работы

Две основные полиморфные кристаллические модификации кварца: кристаллы a- кварца (низкотемпературная модификация кварца) относятся к тригонально-трапецоэдрическому классу 3:2 тригональной системы, кристаллы b- кварца (высокотемпературная модификация кварца) – к гексагонально-трапецоэдрическому классу 6:2 гексагональной системы. Кристаллическая структура a- кварца - каскадного типа, построена из кремне-кислородных тетраэдров, расположенных винтообразно ( с правым или левым ходом винта) по отношению к главной оси кристалла.

Содержание работы

Задание к курсовой работе……………………………………………………
3
Введение. Описание и применение кристаллических модификаций диоксида титана…………………………………………………………………….
4
Стереографические проекции элементов симметрии и общей простой формы рутильной модификации диоксида титана………………………….
6
Стандартная установка кристаллографических и кристаллофизических осей координат. Изображение заданной грани на сетке Вульфа…………..
7
Стереографические проекции частных простых форм рутильной модификации диоксида титана…………………………………………………….
9
Матричные представления преобразований симметрии
10
Оценка возможности возникновения эффектов…………………………….
16
Расчет дифрактограммы диоксида титана…………………………………...
19
Заключение…………………………………………………………………….
29
Список использованной литературы……………………

Файлы: 1 файл

Курсовая1.docx

— 1.46 Мб (Скачать файл)

 

2. Пьезоэлектрический эффект

Пьезоэффект – эффект возникновения поляризации диэлектрика под действием механических напряжений (прямой пьезоэлектрический эффект). Существует и обратный пьезоэлектрический эффект – возникновение механических деформаций под действием электрического поля. Уравнение прямого пьезоэффекта записывается следующим образом: , где и – компоненты вектора поляризации и тензора механических напряжений соответственно, а – компоненты тензора пьезоэлектрических модулей.

Пьезоэлектрическому эффекту соответствует предельная группа симметрии , которая представлена элементами: . Группа изображается покоящимся цилиндром.

Таблица 5

Оценка возникновения пьезоэффекта

Неэквивалентные направления в кристалле

Общие элементы симметрии

Результирующая симметрия кристалла

Вероятность возникновения эффекта

[001]

   

эффект невозможен

[100] или [110]

   

эффект невозможен

[hk0]

   

эффект невозможен

[hkl] или [h0l]

   

эффект невозможен

[hkl]

   

эффект невозможен


 

3. Эффект поляризации в электрическом поле

Поляризация кристалла в электрическом поле можно описать при помощи тензоров 2-го ранга – диэлектрической проницаемости или диэлектрической восприимчивости . Уравнение, описывающее данный эффект: , где вектор электрического смещения, вектор электрического поля.

Эффекту поляризации в электрическом поле соответствует предельная группа симметрии , которая представлена элементами: Группа изображается покоящимся конусом.

Таблица 6

Оценка возникновения эффекта поляризации в электрическом поле

Направление, параллельное оси бесконечного порядка

Общие элементы симметрии

Результирующая симметрия кристалла

Вероятность возникновения эффекта

[001]

   

 возможен продольный эффект

[100] или [110]

   

возможен продольный эффект

[hk0]

   

возможен поперечный и продольный эффект


Окончание таблицы 6

Оценка возникновения эффекта поляризации в электрическом поле

[hhl] или [h0l]

   

возможен поперечный и продольный эффект

[hkl]

   

эффект невозможен


 

4. Эффект электропроводности

Электропроводность описывается тензором второго ранга – тензором удельной проводимости или обратным ему тензором удельного электрического сопротивления.

Уравнение, описывающее явление электропроводности, связывает между собой два вектора – вектор плотности тока и напряжённости электрического поля: . Принципиальное отличие между явлением электропроводности и поляризации в электрическом поле отсутствует. В обоих случаях явление и воздействие являются векторными, симметрия воздействия совпадает. Поэтому все результаты, полученные для предыдущего случая, распространяются и на данный эффект.

 

 

Часть 5. Расчет дифрактограммы кварца

 

Для расчета рентгенограммы поликристаллического вещества необходимо определить положение дифракционных пиков и вычислить относительную интегральную интенсивность.

 

1. Расчет межплоскостных расстояний

Исходными данными для расчета являются периоды решетки, находимые в литературе, и индексы интерференции, определяемые из пространственной группы по законам погасаний.

Расчет следует проводить до тех пор, пока вычисленные межплоскостные расстояния не станут меньше половины длины волны того излучения, для которого рассчитывается диаграмма, так как на рентгенограмме получаются отражения от плоскостей, для которых

Расчет брэгговских углов производится по данным о межплоскостных расстояниях по формуле Вульфа-Брэгга: .

Заданный материал относится к тригональной сингонии. Расчёт межплоскостных расстояний производится по формуле для гексагональной системы координат:


 

 

 

 

2. Вычисление относительной интегральной интенсивности

Вычисление относительной интегральной интенсивности производится не только при расчете рентгенограмм, часто оно представляет собой основную цель исследования, например при определении структуры вещества, искажений кристаллической решетки, характеристической температуры, изучении сверхструктуры и др. Интегральная интенсивность линий рентгенограммы является функцией ряда факторов. Эта зависимость выражается уравнением:

 

где – интенсивность первичных лучей; – постоянная для данного вещества и данных условий съемки величина; – угловой множитель интенсивности; – множитель повторяемости; – абсорбционный множитель; – температурный множитель интенсивности; – структурный множитель интенсивности.

Угловой множитель учитывает поляризацию, происходящую при рассеянии рентгеновых лучей, а также конечную величину пучка рассеянных лучей и геометрию съемки рентгенограммы:

   

Множитель повторяемости равен числу семейств плоскостей в их совокупности, имеющих одинаковое межплоскостное расстояние и одинаковый структурный множитель. В нашем случае граням (0001) отвечает множитель 2, граням (101 0), (112 0) и (h0h l) – 6, для остальных граней (hki0), (hh2h l) и (hkil) множитель равен 12.

Абсорбционный множитель  учитывает ослабление лучей в образце при данной геометрии съемки.

Температурный множитель учитывает разность фаз рассеянных лучей, возникшую вследствие тепловых колебаний.

Расчёт интенсивности в данной работе производится в рамках приближения Брэдли, согласно которому можно без потери точности принять произведение абсорбционного и температурного множителей равным единице (для материалов с достаточно сильным поглощением рентгеновского излучения).

Структурный множитель учитывает зависимость интенсивности рентгеновых лучей от расположения атомов в элементарной ячейке и определяется базисом решетки:

 

Структурный множитель представляет собой, таким образом, взятую по всем атомам базиса сумму произведений атомного множителя на комплексную экспоненту, в аргумент которого входит сумма парных произведений индексов интерференции на одноименные координаты базиса и

Обращение структурного множителя в нуль свидетельствует о погасании соответствующего отражения, поэтому при отсутствии данных о пространственной группе выражение структурного множителя можно использовать для определения индексов наблюдаемых интерференций.

fj- атомный множитель (или фактор) рассеяния рентгеновских лучей, его значения были получены эмпирическим путём, с помощью справочных данным был построен  график зависимости атомного множителя от , с помощью его полиномиальной аппроксимации был получен полином 4-го порядка

y = 0,0018x4 - 0,0594x3 + 0,5761x2 - 3,1976x + 14,047, с помощью полиномы были рассчитаны значения .

Кварц характеризуется следующим атомным базисом:

[(0.4699 0 0.6667), (0 0.4699 0.3334), (0.5301 0.5301 0)  – Si (0.4141 0.2681 0.1188), (0.7319  0.146 0.7855), (0.854 0.5859 0.4522), (0.2681 0.4141 0.8812), (0.146 0.7319 0.2145), (0.5859  0.854 0.5478 ) - O].

Рассчитаем структурный множитель :

 

Таблица 7

 

Расчет интенсивности рентгеновских рефлексов на излучении меди для кварца

 

Индексы

, нм

               

H

K

L

1

0

0

0,181

6

10,438

1,175

60,94

11,49

192,581

70415,19

0,194

1

0

2

0,077

12

16,089

1,797

26,06

10,33

1162,521

363569,11

1,000

0

0

3

0,060

2

18,335

2,040

20,24

9,95

2261,554

91545,56

0,252

1

1

1

0,054

12

19,321

2,146

18,30

9,79

1093,954

240248,75

0,661

2

0

0

0,045

12

21,244

2,350

15,27

9,50

947,405

173609,41

0,478

0

2

1

0,042

12

22,161

2,447

14,10

9,37

464,229

78532,29

0,216

1

1

2

0,042

12

22,174

2,448

14,08

9,36

1318,263

222758,18

0,613


 Продолжение таблицы 7

Расчет интенсивности рентгеновских рефлексов на излучении меди для кварца

 

Индексы

, нм

               

H

K

L

2

0

2

0,034

12

24,750

2,715

11,46

9,02

121,121

16661,98

0,046

2

1

0

0,026

12

28,642

3,109

8,78

8,56

691,972

72895,86

0,201

1

2

1

0,025

12

29,385

3,182

8,39

8,48

843,947

84927,04

0,234

1

2

2

0,022

12

31,548

3,393

7,40

8,25

529,212

46992,26

0,129

3

0

0

0,020

12

32,924

3,525

6,87

8,11

108,324

8935,65

0,025

3

0

1

0,019

6

33,610

3,590

6,64

8,04

54,125

2155,28

0,006

1

2

3

0,018

12

34,983

3,719

6,21

7,91

371,339

27652,01

0,076

3

0

2

0,018

12

35,632

3,779

6,02

7,85

1032,238

74568,38

0,205

2

2

0

0,015

12

38,873

4,071

5,24

7,56

584,251

36720,67

0,101

0

3

3

0,015

12

38,902

4,073

5,23

7,56

584,692

36707,23

0,101

2

2

1

0,015

12

39,517

4,127

5,11

7,51

593,826

36391,96

0,100

3

1

0

0,014

12

40,786

4,237

4,87

7,40

658,455

38476,62

0,106

3

1

1

0,014

12

41,421

4,291

4,76

7,35

329,104

18798,13

0,052

2

2

2

0,014

12

41,431

4,292

4,76

7,35

153,757

8779,61

0,024

3

1

2

0,013

12

43,320

4,450

4,47

7,20

678,157

36342,87

0,100

4

0

0

0,011

12

46,443

4,700

4,08

6,96

343,848

16815,67

0,046

1

3

3

0,011

12

46,471

4,702

4,07

6,95

249,423

12188,94

0,034

4

0

1

0,011

12

47,074

4,749

4,01

6,91

1430,349

68806,45

0,189

4

0

2

0,010

12

48,975

4,893

3,83

6,77

39,220

1802,57

0,005


 

Рис.  6. Штрихдиаграмма для кварца на излучении меди

 

Таблица 8

Расчет интенсивности рентгеновских рефлексов на излучении хрома для кварца

Индексы

, нм

               

H

K

L

1

0

0

0,181

6

20,570

3,182474

16,24

11,49

192,581

18761,23

0,191

1

0

2

0,077

12

32,509

3,182474

7,03

10,33

1162,521

98001,13

1,000

0

0

3

0,060

2

37,592

3,182474

5,52

9,95

2261,554

24969,94

0,255

1

1

1

0,054

12

39,913

3,182474

5,03

9,79

1093,954

66030,91

0,674

2

0

0

0,045

12

44,644

3,182474

4,29

9,50

947,405

48741,77

0,497

0

2

1

0,042

12

47,014

3,182474

4,01

9,37

464,229

22365,96

0,228

1

1

2

0,042

12

47,049

3,182474

4,01

9,36

1318,263

63455,99

0,648

2

0

2

0,034

12

54,282

3,182474

3,48

9,02

121,121

5064,12

0,052

2

1

0

0,026

12

68,369

3,182474

2,31

8,56

691,972

19218,84

0,196

1

2

1

0,025

12

72,094

3,182474

2,21

8,48

843,947

22369,39

0,228

Информация о работе Описание и применение кристаллических модификаций кварца