Автор работы: Пользователь скрыл имя, 25 Ноября 2014 в 22:40, курсовая работа
Две основные полиморфные кристаллические модификации кварца: кристаллы a- кварца (низкотемпературная модификация кварца) относятся к тригонально-трапецоэдрическому классу 3:2 тригональной системы, кристаллы b- кварца (высокотемпературная модификация кварца) – к гексагонально-трапецоэдрическому классу 6:2 гексагональной системы. Кристаллическая структура a- кварца - каскадного типа, построена из кремне-кислородных тетраэдров, расположенных винтообразно ( с правым или левым ходом винта) по отношению к главной оси кристалла.
Задание к курсовой работе……………………………………………………
3
Введение. Описание и применение кристаллических модификаций диоксида титана…………………………………………………………………….
4
Стереографические проекции элементов симметрии и общей простой формы рутильной модификации диоксида титана………………………….
6
Стандартная установка кристаллографических и кристаллофизических осей координат. Изображение заданной грани на сетке Вульфа…………..
7
Стереографические проекции частных простых форм рутильной модификации диоксида титана…………………………………………………….
9
Матричные представления преобразований симметрии
10
Оценка возможности возникновения эффектов…………………………….
16
Расчет дифрактограммы диоксида титана…………………………………...
19
Заключение…………………………………………………………………….
29
Список использованной литературы……………………
2. Пьезоэлектрический эффект
Пьезоэффект – эффект возникновения поляризации диэлектрика под действием механических напряжений (прямой пьезоэлектрический эффект). Существует и обратный пьезоэлектрический эффект – возникновение механических деформаций под действием электрического поля. Уравнение прямого пьезоэффекта записывается следующим образом: , где и – компоненты вектора поляризации и тензора механических напряжений соответственно, а – компоненты тензора пьезоэлектрических модулей.
Пьезоэлектрическому эффекту соответствует предельная группа симметрии , которая представлена элементами: . Группа изображается покоящимся цилиндром.
Таблица 5
Оценка возникновения пьезоэффекта
Неэквивалентные направления в кристалле |
Общие элементы симметрии |
Результирующая симметрия кристалла |
Вероятность возникновения эффекта |
[001] |
эффект невозможен | ||
[100] или [110] |
эффект невозможен | ||
[hk0] |
эффект невозможен | ||
[hkl] или [h0l] |
эффект невозможен | ||
[hkl] |
эффект невозможен |
3. Эффект поляризации в электрическом поле
Поляризация кристалла в электрическом поле можно описать при помощи тензоров 2-го ранга – диэлектрической проницаемости или диэлектрической восприимчивости . Уравнение, описывающее данный эффект: , где вектор электрического смещения, вектор электрического поля.
Эффекту поляризации в электрическом поле соответствует предельная группа симметрии , которая представлена элементами: Группа изображается покоящимся конусом.
Таблица 6
Оценка возникновения эффекта поляризации в электрическом поле
Направление, параллельное оси бесконечного порядка |
Общие элементы симметрии |
Результирующая симметрия кристалла |
Вероятность возникновения эффекта |
[001] |
возможен продольный эффект | ||
[100] или [110] |
возможен продольный эффект | ||
[hk0] |
возможен поперечный и продольный эффект |
Окончание таблицы 6
Оценка возникновения эффекта поляризации в электрическом поле
[hhl] или [h0l] |
возможен поперечный и продольный эффект | ||
[hkl] |
эффект невозможен |
4. Эффект электропроводности
Электропроводность описывается тензором второго ранга – тензором удельной проводимости или обратным ему тензором удельного электрического сопротивления.
Уравнение, описывающее явление электропроводности, связывает между собой два вектора – вектор плотности тока и напряжённости электрического поля: . Принципиальное отличие между явлением электропроводности и поляризации в электрическом поле отсутствует. В обоих случаях явление и воздействие являются векторными, симметрия воздействия совпадает. Поэтому все результаты, полученные для предыдущего случая, распространяются и на данный эффект.
Часть 5. Расчет дифрактограммы кварца
Для расчета рентгенограммы поликристаллического вещества необходимо определить положение дифракционных пиков и вычислить относительную интегральную интенсивность.
1. Расчет межплоскостных расстояний
Исходными данными для расчета являются периоды решетки, находимые в литературе, и индексы интерференции, определяемые из пространственной группы по законам погасаний.
Расчет следует проводить до тех пор, пока вычисленные межплоскостные расстояния не станут меньше половины длины волны того излучения, для которого рассчитывается диаграмма, так как на рентгенограмме получаются отражения от плоскостей, для которых
Расчет брэгговских углов производится по данным о межплоскостных расстояниях по формуле Вульфа-Брэгга: .
Заданный материал относится к тригональной сингонии. Расчёт межплоскостных расстояний производится по формуле для гексагональной системы координат:
2. Вычисление относительной интегральной интенсивности
Вычисление относительной интегральной интенсивности производится не только при расчете рентгенограмм, часто оно представляет собой основную цель исследования, например при определении структуры вещества, искажений кристаллической решетки, характеристической температуры, изучении сверхструктуры и др. Интегральная интенсивность линий рентгенограммы является функцией ряда факторов. Эта зависимость выражается уравнением:
где – интенсивность первичных лучей; – постоянная для данного вещества и данных условий съемки величина; – угловой множитель интенсивности; – множитель повторяемости; – абсорбционный множитель; – температурный множитель интенсивности; – структурный множитель интенсивности.
Угловой множитель учитывает поляризацию, происходящую при рассеянии рентгеновых лучей, а также конечную величину пучка рассеянных лучей и геометрию съемки рентгенограммы:
Множитель повторяемости равен числу семейств плоскостей в их совокупности, имеющих одинаковое межплоскостное расстояние и одинаковый структурный множитель. В нашем случае граням (0001) отвечает множитель 2, граням (101 0), (112 0) и (h0h l) – 6, для остальных граней (hki0), (hh2h l) и (hkil) множитель равен 12.
Абсорбционный множитель учитывает ослабление лучей в образце при данной геометрии съемки.
Температурный множитель учитывает разность фаз рассеянных лучей, возникшую вследствие тепловых колебаний.
Расчёт интенсивности в данной работе производится в рамках приближения Брэдли, согласно которому можно без потери точности принять произведение абсорбционного и температурного множителей равным единице (для материалов с достаточно сильным поглощением рентгеновского излучения).
Структурный множитель учитывает зависимость интенсивности рентгеновых лучей от расположения атомов в элементарной ячейке и определяется базисом решетки:
Структурный множитель представляет собой, таким образом, взятую по всем атомам базиса сумму произведений атомного множителя на комплексную экспоненту, в аргумент которого входит сумма парных произведений индексов интерференции на одноименные координаты базиса и
Обращение структурного множителя в нуль свидетельствует о погасании соответствующего отражения, поэтому при отсутствии данных о пространственной группе выражение структурного множителя можно использовать для определения индексов наблюдаемых интерференций.
fj- атомный множитель (или фактор) рассеяния рентгеновских лучей, его значения были получены эмпирическим путём, с помощью справочных данным был построен график зависимости атомного множителя от , с помощью его полиномиальной аппроксимации был получен полином 4-го порядка
y = 0,0018x4 - 0,0594x3 + 0,5761x2 - 3,1976x + 14,047, с помощью полиномы были рассчитаны значения .
Кварц характеризуется следующим атомным базисом:
[(0.4699 0 0.6667), (0 0.4699 0.3334), (0.5301 0.5301 0) – Si (0.4141 0.2681 0.1188), (0.7319 0.146 0.7855), (0.854 0.5859 0.4522), (0.2681 0.4141 0.8812), (0.146 0.7319 0.2145), (0.5859 0.854 0.5478 ) - O].
Рассчитаем структурный множитель :
Таблица 7
Расчет интенсивности рентгеновских рефлексов на излучении меди для кварца
Индексы |
, нм |
||||||||||
H |
K |
L | |||||||||
1 |
0 |
0 |
0,181 |
6 |
10,438 |
1,175 |
60,94 |
11,49 |
192,581 |
70415,19 |
0,194 |
1 |
0 |
2 |
0,077 |
12 |
16,089 |
1,797 |
26,06 |
10,33 |
1162,521 |
363569,11 |
1,000 |
0 |
0 |
3 |
0,060 |
2 |
18,335 |
2,040 |
20,24 |
9,95 |
2261,554 |
91545,56 |
0,252 |
1 |
1 |
1 |
0,054 |
12 |
19,321 |
2,146 |
18,30 |
9,79 |
1093,954 |
240248,75 |
0,661 |
2 |
0 |
0 |
0,045 |
12 |
21,244 |
2,350 |
15,27 |
9,50 |
947,405 |
173609,41 |
0,478 |
0 |
2 |
1 |
0,042 |
12 |
22,161 |
2,447 |
14,10 |
9,37 |
464,229 |
78532,29 |
0,216 |
1 |
1 |
2 |
0,042 |
12 |
22,174 |
2,448 |
14,08 |
9,36 |
1318,263 |
222758,18 |
0,613 |
Продолжение таблицы 7
Расчет интенсивности рентгеновских рефлексов на излучении меди для кварца
Индексы |
, нм |
||||||||||
H |
K |
L | |||||||||
2 |
0 |
2 |
0,034 |
12 |
24,750 |
2,715 |
11,46 |
9,02 |
121,121 |
16661,98 |
0,046 |
2 |
1 |
0 |
0,026 |
12 |
28,642 |
3,109 |
8,78 |
8,56 |
691,972 |
72895,86 |
0,201 |
1 |
2 |
1 |
0,025 |
12 |
29,385 |
3,182 |
8,39 |
8,48 |
843,947 |
84927,04 |
0,234 |
1 |
2 |
2 |
0,022 |
12 |
31,548 |
3,393 |
7,40 |
8,25 |
529,212 |
46992,26 |
0,129 |
3 |
0 |
0 |
0,020 |
12 |
32,924 |
3,525 |
6,87 |
8,11 |
108,324 |
8935,65 |
0,025 |
3 |
0 |
1 |
0,019 |
6 |
33,610 |
3,590 |
6,64 |
8,04 |
54,125 |
2155,28 |
0,006 |
1 |
2 |
3 |
0,018 |
12 |
34,983 |
3,719 |
6,21 |
7,91 |
371,339 |
27652,01 |
0,076 |
3 |
0 |
2 |
0,018 |
12 |
35,632 |
3,779 |
6,02 |
7,85 |
1032,238 |
74568,38 |
0,205 |
2 |
2 |
0 |
0,015 |
12 |
38,873 |
4,071 |
5,24 |
7,56 |
584,251 |
36720,67 |
0,101 |
0 |
3 |
3 |
0,015 |
12 |
38,902 |
4,073 |
5,23 |
7,56 |
584,692 |
36707,23 |
0,101 |
2 |
2 |
1 |
0,015 |
12 |
39,517 |
4,127 |
5,11 |
7,51 |
593,826 |
36391,96 |
0,100 |
3 |
1 |
0 |
0,014 |
12 |
40,786 |
4,237 |
4,87 |
7,40 |
658,455 |
38476,62 |
0,106 |
3 |
1 |
1 |
0,014 |
12 |
41,421 |
4,291 |
4,76 |
7,35 |
329,104 |
18798,13 |
0,052 |
2 |
2 |
2 |
0,014 |
12 |
41,431 |
4,292 |
4,76 |
7,35 |
153,757 |
8779,61 |
0,024 |
3 |
1 |
2 |
0,013 |
12 |
43,320 |
4,450 |
4,47 |
7,20 |
678,157 |
36342,87 |
0,100 |
4 |
0 |
0 |
0,011 |
12 |
46,443 |
4,700 |
4,08 |
6,96 |
343,848 |
16815,67 |
0,046 |
1 |
3 |
3 |
0,011 |
12 |
46,471 |
4,702 |
4,07 |
6,95 |
249,423 |
12188,94 |
0,034 |
4 |
0 |
1 |
0,011 |
12 |
47,074 |
4,749 |
4,01 |
6,91 |
1430,349 |
68806,45 |
0,189 |
4 |
0 |
2 |
0,010 |
12 |
48,975 |
4,893 |
3,83 |
6,77 |
39,220 |
1802,57 |
0,005 |
Рис. 6. Штрихдиаграмма для кварца на излучении меди
Таблица 8
Расчет интенсивности рентгеновских рефлексов на излучении хрома для кварца
Индексы |
, нм |
||||||||||
H |
K |
L | |||||||||
1 |
0 |
0 |
0,181 |
6 |
20,570 |
3,182474 |
16,24 |
11,49 |
192,581 |
18761,23 |
0,191 |
1 |
0 |
2 |
0,077 |
12 |
32,509 |
3,182474 |
7,03 |
10,33 |
1162,521 |
98001,13 |
1,000 |
0 |
0 |
3 |
0,060 |
2 |
37,592 |
3,182474 |
5,52 |
9,95 |
2261,554 |
24969,94 |
0,255 |
1 |
1 |
1 |
0,054 |
12 |
39,913 |
3,182474 |
5,03 |
9,79 |
1093,954 |
66030,91 |
0,674 |
2 |
0 |
0 |
0,045 |
12 |
44,644 |
3,182474 |
4,29 |
9,50 |
947,405 |
48741,77 |
0,497 |
0 |
2 |
1 |
0,042 |
12 |
47,014 |
3,182474 |
4,01 |
9,37 |
464,229 |
22365,96 |
0,228 |
1 |
1 |
2 |
0,042 |
12 |
47,049 |
3,182474 |
4,01 |
9,36 |
1318,263 |
63455,99 |
0,648 |
2 |
0 |
2 |
0,034 |
12 |
54,282 |
3,182474 |
3,48 |
9,02 |
121,121 |
5064,12 |
0,052 |
2 |
1 |
0 |
0,026 |
12 |
68,369 |
3,182474 |
2,31 |
8,56 |
691,972 |
19218,84 |
0,196 |
1 |
2 |
1 |
0,025 |
12 |
72,094 |
3,182474 |
2,21 |
8,48 |
843,947 |
22369,39 |
0,228 |
Информация о работе Описание и применение кристаллических модификаций кварца