Автор работы: Пользователь скрыл имя, 28 Сентября 2013 в 19:25, курсовая работа
Целью курсовой работы является обзор возможностей, предоставляемых исследователю современными методами изучения поверхностей.
В этой работе уделяется большое внимание физическим принципам и достоинствам, характерные для данных методов.
Введение
4
Глава 1. Методики исследования топографии поверхности и ее физические свойства.
5
1.1 Конфокальная лазерная микроскопия
5
1.2 Спектроскопия ЯМР
8
1.3 Спектроскопия ЭПР
13
1.4 Атомно-силовая микроскопия
16
1.5 Просвечивающая электронная микроскопия
22
1.6 Растровая электронная микроскопия
26
Глава 2. Характеристика методов исследования поверхности
29
2.1 Сравнительная характеристика различных методов микроскопического исследования поверхности твердых тел
29
Заключение
32
Список использованных источников
33