Автор работы: Пользователь скрыл имя, 21 Октября 2013 в 17:41, реферат
Объектами данной работы является полупроводники. Цель работы: анализ применения полупроводников в науке и технике. В основной части работы даны методы исследования физики полупроводников, полученные результаты, основные конструктивные, технологические и технико-эксплуатационные характеристики. На основе них сделаны соответствующие выводы. Представлена к рассмотрению программа нахождения параметров диодов и транзисторов. Анализ возможностей использования полупроводников показал, что полупроводники могут широко использоваться в различных электронных устройствах.
Введение…………………………………………………………………………………..3
1. Физика полупроводников…………………………………….......................................4
1.1 Зонная структура полупроводников…………………………. …………...4
1.2 Терминология и основные понятия………………………….. …………..5
1.3 Статистика электронов и дырок в полупроводниках…………………..6
1.4 Кон-ция Эл-в и дырок в примесном полупроводнике……………….....11
1.5 Определение положения уровня Ферми…………………………………12
1.6 Проводимость полупроводников………………………..............................13
1.7 Токи в полупроводниках………………………………………………….14
1.8 Неравновесные носители………………………………………………….15
1.9 Уравнение непрерывности………………………………………………..17
2. Полупроводниковые диоды…………………………………………………………….18
2.1. Характеристики идеального диода на основе p-n перехода……………..18
2.2. Выпрямление в диоде…………………………………………………………19
2.3. Характеристическое сопротивление………………………………………..19
2.4. Влияние температуры на характеристики диодов………………………..20
3.Транзисторы……………………………………………………………………………..21
3.1. Принцип работы транзистора…………………………………………………22
3.2.Параметры транзистора как элемента цепи…………………………………23
3.3.Типы транзисторов………………………………………………………………25
3.4.Технологические разновидности биполярных транзисторов……………...26
4.Программа расчета параметров диода и транзистора……………………………..27
Заключение………………………………………………………………………………...32
Список использованной литературы…………………………………………………..33
Параметры холостого хода транзистора (z-параметры)
Параметры короткого замыкания (y-параметры)
Смешанная система параметров (h-параметры)
Вводя новые обозначения для частных производных, имеющих размерность сопротивлений, и заменяя дифференциалы токов и напряжений комплексными амплитудами малых переменных сигналов( U и I ), получаем:
U2 = Z21 I1 + Z22 I2, (2)
где Z11, Z12, Z21, Z22 - характеристические сопротивления транзистора.
Характеристические
Входное сопротивление транзистора при холостом ходе на выходе:
Сопротивление обратной связи (обратной передачи) при холостом ходе на выходе:
Сопротивление прямой передачи (сопротивление усиления) при холостом ходе на выходе:
Выходное сопротивление
Зависимость z-параметров от режима работы легко выражается аналитически. Недостатком является трудность измерения параметра Z11, т.е осуществления режима холостого хода по переменному току на
Зависимость токов от напряжения можно записать так (I1, U1, I2, U2-комплексные амплитуды малых переменных сигналов):
I2 = Y21 U1 + Y22 U2,
где Y11, Y12, Y21, Y22 - характеристические проводимости четырёхполюсника, которые определяются при условии короткого замыкания входа или выхода транзистора по переменному току.
Входная проводимость при коротком замыкании выхода:
Проводимость обратной связи (обратной передачи) при коротком замыкании входа:
Проводимость прямой передачи (усиления) при коротком замыкании выхода:
Выходная проводимость при коротком замыкании входа:
Выражения для токов и напряжений можно записать так (I1, U1, I2, U2-комплексные амплитуды малых переменных сигналов):
I2 = h21 I1 + h22 U2,
где h11, h12, h21, h22 - гибридные (смешанные) параметры четырёхполюсника.
В отличие от y- и z-параметров h-параметры имеют различную размерность. Это объясняется тем, что в качестве независимых параметров взяты различные по размерностям величины - входной ток I1 и выходное напряжение U2.
Входное сопротивление:
Коэффициент обратной связи по напряжению:
Коэффициент передачи по току (коэффициент усиления):
Выходная проводимость:
Достоинством системы h-
n-р-n-транзистор, являющийся основным элементом биполярных ИМС (рис. 2), изготавливают по планарной эпитаксиальной технологии. Все остальные элементы ИМС выполняют в том же технологическом цикле.
Эпитаксиальный слой п (коллектор транзистора) принято называть коллекторным слоем (хотя на его основе можно, например, изготовить и резистор): диффузионный слой р (база транзистора) - базовым слоем, диффузи онный слой n+ (эмиттер транзистора) - эмиттерным. Базовый слой - всегда диффузионный, поэтому в интегральных микросхемах используются только дрейфовые транзисторы. Пунктиром на рис. 2 показан путь тока между коллектором К и эмиттером Э (базовый ток на несколько порядков меньше, им пренебрегают). От К ток проходит к Э через большое сопротивление коллекторного слоя в горизонтальном направлении rkk и сопротивление в вертикальном направлении r*kk. Вертикальная составляющая сопротивления коллекторного слоя мала (r*kk << rkk), поэтому общее сопротивление в цепи коллектора определяется величиной rkk. Чтобы уменьшить rkk, в транзистор вводят дополнительный элемент - скрытый сильнолегированный n+ слой. Тогда основная часть тока от коллектора к эмиттеру проходит по низкоомному участку n+, сопротивление коллекторного слоя получается небольшим (уменьшается почти в 20 раз). Рабочий интегральный транзистор п-р-п связан в структуре с «паразитным» транзистором р-п-р (Э', Б' и К' на рис. 2). Последний неизбежно получается, так как структура четырехслойна, и есть еще слой р (подложка). Если паразитный транзистор заперт (на эмиттере Э' - минус, на базе Б' - плюс), то n-р-n-транзистор работает в активном режиме. Но если паразитный транзистор отперт (на эмиттере Э' - плюс, на базе Б' - минус), в его эмиттерной цепи течет ток I, в коллекторной-ток aрпр * I и часть тока ответвляется в подложку, минуя рабочий n-р-n-транзистор. В этом случае последний оказывается в режиме насыщения. Коллекторный ток Ik рабочего p-n-p-транзистора уменьшается на величину тока, уходящего в подложку. Таким образом «паразитный» транзистор, отсасывая часть тока, ухудшает свойства рабочего транзистора. Для того чтобы избежать ухудшения параметров транзистора в режиме переключения, необходимо резко уменьшить ток aрпр' через паразитный транзистор в подложку. К сожалению, ток I уменьшить нельзя, следовательно, нужно уменьшить коэффициент aрпр. Известно, что a ~ 1 - 1/2 * (W / L)^2, где W - толщина базы, а L - диффузионная длина. Чтобы уменьшить а, следует увеличить W или уменьшить L
Среди многочисленных разновидностей транзисторов наибольшее распространение получили сплавные, сплавно-диффузионные, диффузионно-планарные, мезапланарные и эпитаксиально-планарные транзисторы (рис. 1). Сплавные транзисторы (преимущественно германиевые) изготовляют по сплавной технологии получения p-n-переходов. Транзисторная структура с двумя близко расположенными p-n-переходами показана на рис. 2, а одна из наиболее распространенных конструкций сплавного транзистора - на рис. 3 (где 1 - кристалл Ge; 2 - кристаллодержатель; 3 - электрод эмиттера; 4 - электрод коллектора; 5 - базовое кольцо; 6 - корпус; 7 - основание; 8 - выводы). В сплавных транзисторах трудно сделать очень тонкую базу, поэтому они предназначены только для низких и средних частот, их могут выпускать на большие мощности, до десятков ватт. В мощных транзисторах электронно-дырочные переходы выполняют большой площади, вывод коллектора соединяется с корпусом. Основание корпуса для лучшего охлаждения изготавливают в виде массивной медной пластины, которую монтируют на теплоотводе или на шасси электронной схемы. Недостатки сплавных транзисторов - сравнительно невысокая предельная частота fa 20 МГц, значительный разброс параметров и некоторая нестабильность свойств транзистора во времени. Сплавно-диффуэионные транзисторы изготавливают сочетанием сплавной технологии с диффузионной. В этом случае наплавляемая навеска содержит как донорные (сурьма), так и акцепторные (индий) примеси. Навески размещают на исходной полупроводниковой пластине и прогревают. При сплавлении образуется эмиттерный переход. Однако при высокой температуре одновременно с процессом плавления происходит диффузия примесей из расплава в глубь кристалла. Примеси доноров и акцепторов распределяются по толщине кристалла при этом неравномерно, так как разные примеси диффундируют на разную глубину (например, диффузия сурьмы идет скорее, чем индия). В кристаллов результате образуется диффузионный базовый слой n-типа с неравномерным распределением примесей (получается «встроенное» в базу электрическое поле). Коллектором служит исходная пластинка герма-ния p-типа. Перенос неосновных носителей через базовую область осуществляется в основном дрейфом во «встроенном» электрическом полем транзисторы поэтому называют дрейфовыми. Толщина базы транзисторов .может быть уменьшена до 0,5-1 мкм. Рабочие частоты достигают 500-1000 МГц. Широкий диапазон частот является основным достоинством этой разновидности транзисторов. К недостаткам относятся низкие обратные напряжения на эмиттере из-за сильного легирования эмиттерной области, а также трудности в разработке транзисторов на высокие напряжения и большие мощности. В последние годы при изготовлении дрейфовых транзисторов широко используется метод двойной диффузии. В этом случае базовая и эмиттерная области получаются при диффузии примесей п- и p-типа в исходную пластинку полупроводника. Такие транзисторы изготавливают в виде планарных структур и меза-структур.
4.Программа расчета параметров диода и транзистора
Данная программа написана на языке программирования Pascal. Суть программы состоит в том, что по вводимым данным программа, с помощью физических формул, рассчитывает параметры диода и транзистора.
Основные расчетные формулы:
-входное сопротивление
-коэффициент обратной связи по напряжению
-коэффициент передачи по току
-выходная проводимость
Паспортные данные биполярного транзистора МП39:
h21э |
IК мах , мА |
UКэмах ,В |
UКбмах ,В |
РКмах ,мВт |
16..60 |
20 |
-15 |
-20 |
150 103 |
Схемы исследования биполярного транзистора:
Результаты полученных измерений:
Семейство входных характеристик транзистора Uбэ=f(Iб) при Uкэ=const
Uкэ=0 В |
Iб,мА |
0,06 |
0,1 |
0,2 |
0,3 |
0,8 |
|
Uбэ,В |
0,1 |
0,12 |
0,14 |
0,16 |
0,12 |
||
Uкэ=5 В |
Iб,мА |
0,1 |
0,2 |
0,4 |
0,6 |
0,8 |
1 |
Uбэ,В |
0,15 |
0,18 |
0,22 |
0,25 |
0,27 |
0,28 |
Семейство выходных характеристик транзистора Iк=f(Uкэ) при Iб=const
Iб=0.2 мА |
Uкэ, В |
0,2 |
2 |
3 |
4 |
7 |
10 |
Iк, мА |
1 |
1,6 |
1,7 |
1,8 |
1,9 |
1,95 | |
Iб=0.4 мА |
Uкэ, В |
0,2 |
1 |
2 |
4 |
6 |
10 |
Iк, мА |
2,3 |
4 |
4,2 |
4,4 |
4,6 |
4,9 | |
Iб=0.56мА |
Uкэ, В |
0,2 |
1 |
2 |
3 |
4 |
6 |
Iк, мА |
3,2 |
6,8 |
7 |
7,1 |
7,2 |
7,6 |
Семейство прямой передачи по току Iк=f(Iб) при Uкэ=const
Uкэ=2В |
Iб,мА |
0,2 |
0,4 |
0,6 |
Iк,мА |
1,8 |
4,2 |
7,2 | |
Uкэ=9В |
Iб,мА |
0,2 |
0,4 |
0,6 |
Iк,мА |
2,2 |
5,2 |
9,2 |
h11э= (Uбэ’’’-Uбэ’’)/(Iб’’’-Iб’’) при Uкэ=Uкэ’’
h11э=0,125 Ом
h12э= (Uбэ’’’-Uбэ’)/(Uкэ’’-Uкэ) при Iб=Iб’’’
h12э=0,012
h22э=(Iк’’-Iк’)/(Uкэ’’-Uкэ’) при Iб=const
h22э=0,1 Cм
h21э=(Iк’’’-Iк’)/(Iб’’’-Iб’’) при Uкэ=const
h21э=17,5
Текст программы расчета параметров транзистора и диода.
program parametr; {программа расчета диодов, транзисторов}
uses CRT; {подключение модуля CRT}
var ch,ch1:char; {символьные переменные
для определения нажатой
i:integer;
procedure clear; {процедура очистки
экрана с сохранением
begin
gotoXY(1,2); {установка позиции курсора}
for i:=1 to 23 do {цикл зарисовки
содержимого экрана цветом
write('
end;
procedure tell(xPos,yPos:byte; s:string; color:byte); {процедура, выводящая}
begin {надпись s в позиции экрана xPos,yPos цветом color}
textColor(color); {установка цвета color}
gotoXY(xPos,yPos); {установка позиции курсора}
writeln(s); {вывод надписи}
end;
procedure fiz_po_h; {расчет физ. парам. транз. по h-параметрам}
var n:byte;
y,h1,h2,h3,h4,r1,r2,r3,r4,a:
begin
clear;
{вызов процедуры очистки
tell(5,4,'РАСЧЕТ ФИЗИЧЕСКИХ
tell(5,6,'Выберите вариант
tell(15,7,'[1]...С общим
tell(15,8,'[2]...С общей
tell(15,9,'[3]...С общим
repeat
ch1:=readKey; {ожидание нажатия клавиши}
if ch1='1' then n:=1;
if ch1='2' then n:=2;
if ch1='3' then n:=3;
until (ch1='1')or(ch1='2')or(ch1='3'
writeln;
if n=1 then writeln(' Выбрана схема с ОЭ');
if n=2 then writeln(' Выбрана схема с ОБ');
if n=3 then writeln(' Выбрана схема с ОК');
writeln;
textColor(0);
{ввод данных для расчета}
write(' Введите сопротивление эмттера Rэ=');readln(r1);
write(' Введите сопротивление базы Rб=');readln(r2);