Режим работы транзистора
Автор работы: Пользователь скрыл имя, 21 Октября 2013 в 17:41, реферат
Описание работы
Объектами данной работы является полупроводники. Цель работы: анализ применения полупроводников в науке и технике. В основной части работы даны методы исследования физики полупроводников, полученные результаты, основные конструктивные, технологические и технико-эксплуатационные характеристики. На основе них сделаны соответствующие выводы. Представлена к рассмотрению программа нахождения параметров диодов и транзисторов. Анализ возможностей использования полупроводников показал, что полупроводники могут широко использоваться в различных электронных устройствах.
Содержание работы
Введение…………………………………………………………………………………..3
1. Физика полупроводников…………………………………….......................................4
1.1 Зонная структура полупроводников…………………………. …………...4
1.2 Терминология и основные понятия………………………….. …………..5
1.3 Статистика электронов и дырок в полупроводниках…………………..6
1.4 Кон-ция Эл-в и дырок в примесном полупроводнике……………….....11
1.5 Определение положения уровня Ферми…………………………………12
1.6 Проводимость полупроводников………………………..............................13
1.7 Токи в полупроводниках………………………………………………….14
1.8 Неравновесные носители………………………………………………….15
1.9 Уравнение непрерывности………………………………………………..17
2. Полупроводниковые диоды…………………………………………………………….18
2.1. Характеристики идеального диода на основе p-n перехода……………..18
2.2. Выпрямление в диоде…………………………………………………………19
2.3. Характеристическое сопротивление………………………………………..19
2.4. Влияние температуры на характеристики диодов………………………..20
3.Транзисторы……………………………………………………………………………..21
3.1. Принцип работы транзистора…………………………………………………22
3.2.Параметры транзистора как элемента цепи…………………………………23
3.3.Типы транзисторов………………………………………………………………25
3.4.Технологические разновидности биполярных транзисторов……………...26
4.Программа расчета параметров диода и транзистора……………………………..27
Заключение………………………………………………………………………………...32
Список использованной литературы…………………………………………………..33
Файлы: 1 файл
Реферат Научная работа включает_ 33 страниц, 18 иллюстраций и 3 .doc
— 952.00 Кб (Скачать файл)Параметры холостого хода транзистора (z-параметры)
Параметры короткого замыкания (y-параметры)
Смешанная система параметров (h-параметры)
Параметры холостого хода (z-параметры)
Вводя новые обозначения для частных производных, имеющих размерность сопротивлений, и заменяя дифференциалы токов и напряжений комплексными амплитудами малых переменных сигналов( U и I ), получаем:
U1 = Z11 I1 + Z12 I2; (1)
U2 = Z21 I1 + Z22 I2, (2)
где Z11, Z12, Z21, Z22 - характеристические сопротивления транзистора.
Характеристические
Входное сопротивление транзистора при холостом ходе на выходе:
Z11 = U1/I1, при I2 = 0
Сопротивление обратной связи (обратной передачи) при холостом ходе на выходе:
Z12 = U1/I2, при I1 = 0
Сопротивление прямой передачи (сопротивление усиления) при холостом ходе на выходе:
Z21 = U2/I1, при I2 = 0
Выходное сопротивление
Z22 = U2/I2, при I1 = 0
Зависимость z-параметров от режима работы легко выражается аналитически. Недостатком является трудность измерения параметра Z11, т.е осуществления режима холостого хода по переменному току на
Параметры короткого замыкания (y-параметры)
Зависимость токов от напряжения можно записать так (I1, U1, I2, U2-комплексные амплитуды малых переменных сигналов):
I1 = Y11 U1 + Y12 U2;
I2 = Y21 U1 + Y22 U2,
где Y11, Y12, Y21, Y22 - характеристические проводимости четырёхполюсника, которые определяются при условии короткого замыкания входа или выхода транзистора по переменному току.
Входная проводимость при коротком замыкании выхода:
Y11 = I1/U1, при U2 = 0
Проводимость обратной связи (обратной передачи) при коротком замыкании входа:
Y12 = I1/U2, при U1 = 0
Проводимость прямой передачи (усиления) при коротком замыкании выхода:
Y21 = I2/U1, при U2 = 0
Выходная проводимость при коротком замыкании входа:
Y22 = I2/U2, при U1 = 0
Смешанная система параметров (h-параметры)
Выражения для токов и напряжений можно записать так (I1, U1, I2, U2-комплексные амплитуды малых переменных сигналов):
U1 = h11 I1 + h12 U2;
I2 = h21 I1 + h22 U2,
где h11, h12, h21, h22 - гибридные (смешанные) параметры четырёхполюсника.
В отличие от y- и z-параметров h-параметры имеют различную размерность. Это объясняется тем, что в качестве независимых параметров взяты различные по размерностям величины - входной ток I1 и выходное напряжение U2.
Входное сопротивление:
h11 = U1/I1, при U2 = 0
Коэффициент обратной связи по напряжению:
h12 = U1/U2, при I1 = 0
Коэффициент передачи по току (коэффициент усиления):
h21 = I2/I1, при U2 = 0
Выходная проводимость:
h22 = I2/U2, при I1 = 0
Достоинством системы h-
3.3.Типы транзисторов:
Биполярный n-р-n-транзистор
n-р-n-транзистор, являющийся основным элементом биполярных ИМС (рис. 2), изготавливают по планарной эпитаксиальной технологии. Все остальные элементы ИМС выполняют в том же технологическом цикле.
Эпитаксиальный слой п (коллектор транзистора) принято называть коллекторным слоем (хотя на его основе можно, например, изготовить и резистор): диффузионный слой р (база транзистора) - базовым слоем, диффузи онный слой n+ (эмиттер транзистора) - эмиттерным. Базовый слой - всегда диффузионный, поэтому в интегральных микросхемах используются только дрейфовые транзисторы. Пунктиром на рис. 2 показан путь тока между коллектором К и эмиттером Э (базовый ток на несколько порядков меньше, им пренебрегают). От К ток проходит к Э через большое сопротивление коллекторного слоя в горизонтальном направлении rkk и сопротивление в вертикальном направлении r*kk. Вертикальная составляющая сопротивления коллекторного слоя мала (r*kk << rkk), поэтому общее сопротивление в цепи коллектора определяется величиной rkk. Чтобы уменьшить rkk, в транзистор вводят дополнительный элемент - скрытый сильнолегированный n+ слой. Тогда основная часть тока от коллектора к эмиттеру проходит по низкоомному участку n+, сопротивление коллекторного слоя получается небольшим (уменьшается почти в 20 раз). Рабочий интегральный транзистор п-р-п связан в структуре с «паразитным» транзистором р-п-р (Э', Б' и К' на рис. 2). Последний неизбежно получается, так как структура четырехслойна, и есть еще слой р (подложка). Если паразитный транзистор заперт (на эмиттере Э' - минус, на базе Б' - плюс), то n-р-n-транзистор работает в активном режиме. Но если паразитный транзистор отперт (на эмиттере Э' - плюс, на базе Б' - минус), в его эмиттерной цепи течет ток I, в коллекторной-ток aрпр * I и часть тока ответвляется в подложку, минуя рабочий n-р-n-транзистор. В этом случае последний оказывается в режиме насыщения. Коллекторный ток Ik рабочего p-n-p-транзистора уменьшается на величину тока, уходящего в подложку. Таким образом «паразитный» транзистор, отсасывая часть тока, ухудшает свойства рабочего транзистора. Для того чтобы избежать ухудшения параметров транзистора в режиме переключения, необходимо резко уменьшить ток aрпр' через паразитный транзистор в подложку. К сожалению, ток I уменьшить нельзя, следовательно, нужно уменьшить коэффициент aрпр. Известно, что a ~ 1 - 1/2 * (W / L)^2, где W - толщина базы, а L - диффузионная длина. Чтобы уменьшить а, следует увеличить W или уменьшить L
3.4Технологические
разновидности биполярных транзисторов
Среди многочисленных разновидностей транзисторов наибольшее распространение получили сплавные, сплавно-диффузионные, диффузионно-планарные, мезапланарные и эпитаксиально-планарные транзисторы (рис. 1). Сплавные транзисторы (преимущественно германиевые) изготовляют по сплавной технологии получения p-n-переходов. Транзисторная структура с двумя близко расположенными p-n-переходами показана на рис. 2, а одна из наиболее распространенных конструкций сплавного транзистора - на рис. 3 (где 1 - кристалл Ge; 2 - кристаллодержатель; 3 - электрод эмиттера; 4 - электрод коллектора; 5 - базовое кольцо; 6 - корпус; 7 - основание; 8 - выводы). В сплавных транзисторах трудно сделать очень тонкую базу, поэтому они предназначены только для низких и средних частот, их могут выпускать на большие мощности, до десятков ватт. В мощных транзисторах электронно-дырочные переходы выполняют большой площади, вывод коллектора соединяется с корпусом. Основание корпуса для лучшего охлаждения изготавливают в виде массивной медной пластины, которую монтируют на теплоотводе или на шасси электронной схемы. Недостатки сплавных транзисторов - сравнительно невысокая предельная частота fa 20 МГц, значительный разброс параметров и некоторая нестабильность свойств транзистора во времени. Сплавно-диффуэионные транзисторы изготавливают сочетанием сплавной технологии с диффузионной. В этом случае наплавляемая навеска содержит как донорные (сурьма), так и акцепторные (индий) примеси. Навески размещают на исходной полупроводниковой пластине и прогревают. При сплавлении образуется эмиттерный переход. Однако при высокой температуре одновременно с процессом плавления происходит диффузия примесей из расплава в глубь кристалла. Примеси доноров и акцепторов распределяются по толщине кристалла при этом неравномерно, так как разные примеси диффундируют на разную глубину (например, диффузия сурьмы идет скорее, чем индия). В кристаллов результате образуется диффузионный базовый слой n-типа с неравномерным распределением примесей (получается «встроенное» в базу электрическое поле). Коллектором служит исходная пластинка герма-ния p-типа. Перенос неосновных носителей через базовую область осуществляется в основном дрейфом во «встроенном» электрическом полем транзисторы поэтому называют дрейфовыми. Толщина базы транзисторов .может быть уменьшена до 0,5-1 мкм. Рабочие частоты достигают 500-1000 МГц. Широкий диапазон частот является основным достоинством этой разновидности транзисторов. К недостаткам относятся низкие обратные напряжения на эмиттере из-за сильного легирования эмиттерной области, а также трудности в разработке транзисторов на высокие напряжения и большие мощности. В последние годы при изготовлении дрейфовых транзисторов широко используется метод двойной диффузии. В этом случае базовая и эмиттерная области получаются при диффузии примесей п- и p-типа в исходную пластинку полупроводника. Такие транзисторы изготавливают в виде планарных структур и меза-структур.
4.Программа расчета параметров диода и транзистора
Данная программа написана на языке программирования Pascal. Суть программы состоит в том, что по вводимым данным программа, с помощью физических формул, рассчитывает параметры диода и транзистора.
Основные расчетные формулы:
-входное сопротивление
-коэффициент обратной связи по напряжению
-коэффициент передачи по току
-выходная проводимость
Паспортные данные биполярного транзистора МП39:
h21э |
IК мах , мА |
UКэмах ,В |
UКбмах ,В |
РКмах ,мВт |
16..60 |
20 |
-15 |
-20 |
150 103 |
Схемы исследования биполярного транзистора:
Результаты полученных измерений:
Семейство входных характеристик транзистора Uбэ=f(Iб) при Uкэ=const
Uкэ=0 В |
Iб,мА |
0,06 |
0,1 |
0,2 |
0,3 |
0,8 |
|
Uбэ,В |
0,1 |
0,12 |
0,14 |
0,16 |
0,12 |
||
Uкэ=5 В |
Iб,мА |
0,1 |
0,2 |
0,4 |
0,6 |
0,8 |
1 |
Uбэ,В |
0,15 |
0,18 |
0,22 |
0,25 |
0,27 |
0,28 |
Семейство выходных характеристик транзистора Iк=f(Uкэ) при Iб=const
Iб=0.2 мА |
Uкэ, В |
0,2 |
2 |
3 |
4 |
7 |
10 |
Iк, мА |
1 |
1,6 |
1,7 |
1,8 |
1,9 |
1,95 | |
Iб=0.4 мА |
Uкэ, В |
0,2 |
1 |
2 |
4 |
6 |
10 |
Iк, мА |
2,3 |
4 |
4,2 |
4,4 |
4,6 |
4,9 | |
Iб=0.56мА |
Uкэ, В |
0,2 |
1 |
2 |
3 |
4 |
6 |
Iк, мА |
3,2 |
6,8 |
7 |
7,1 |
7,2 |
7,6 |
Семейство прямой передачи по току Iк=f(Iб) при Uкэ=const
Uкэ=2В |
Iб,мА |
0,2 |
0,4 |
0,6 |
Iк,мА |
1,8 |
4,2 |
7,2 | |
Uкэ=9В |
Iб,мА |
0,2 |
0,4 |
0,6 |
Iк,мА |
2,2 |
5,2 |
9,2 |
h11э= (Uбэ’’’-Uбэ’’)/(Iб’’’-Iб’’) при Uкэ=Uкэ’’
h11э=0,125 Ом
h12э= (Uбэ’’’-Uбэ’)/(Uкэ’’-Uкэ) при Iб=Iб’’’
h12э=0,012
h22э=(Iк’’-Iк’)/(Uкэ’’-Uкэ’) при Iб=const
h22э=0,1 Cм
h21э=(Iк’’’-Iк’)/(Iб’’’-Iб’’) при Uкэ=const
h21э=17,5
Текст программы расчета параметров транзистора и диода.
program parametr; {программа расчета диодов, транзисторов}
uses CRT; {подключение модуля CRT}
var ch,ch1:char; {символьные переменные
для определения нажатой
i:integer;
procedure clear; {процедура очистки
экрана с сохранением
begin
gotoXY(1,2); {установка позиции курсора}
for i:=1 to 23 do {цикл зарисовки
содержимого экрана цветом
write('
end;
procedure tell(xPos,yPos:byte; s:string; color:byte); {процедура, выводящая}
begin {надпись s в позиции экрана xPos,yPos цветом color}
textColor(color); {установка цвета color}
gotoXY(xPos,yPos); {установка позиции курсора}
writeln(s); {вывод надписи}
end;
procedure fiz_po_h; {расчет физ. парам. транз. по h-параметрам}
var n:byte;
y,h1,h2,h3,h4,r1,r2,r3,r4,a:
begin
clear;
{вызов процедуры очистки
tell(5,4,'РАСЧЕТ ФИЗИЧЕСКИХ
tell(5,6,'Выберите вариант
tell(15,7,'[1]...С общим
tell(15,8,'[2]...С общей
tell(15,9,'[3]...С общим
repeat
ch1:=readKey; {ожидание нажатия клавиши}
if ch1='1' then n:=1;
if ch1='2' then n:=2;
if ch1='3' then n:=3;
until (ch1='1')or(ch1='2')or(ch1='3'
writeln;
if n=1 then writeln(' Выбрана схема с ОЭ');
if n=2 then writeln(' Выбрана схема с ОБ');
if n=3 then writeln(' Выбрана схема с ОК');
writeln;
textColor(0);
{ввод данных для расчета}
write(' Введите сопротивление эмттера Rэ=');readln(r1);
write(' Введите сопротивление базы Rб=');readln(r2);