Автор работы: Пользователь скрыл имя, 01 Июля 2013 в 22:51, дипломная работа
Современная тенденция рационального использования материальных ресурсов находит свое отражение в микроминиатюризации многих оптических и электронных устройств, применяемых в различных областях науки и техники. В связи с этим возрастает роль тонкослойных покрытий, позволяющих решать важные технические задачи с помощью компактных элементов при использовании минимального количества исходного материала. Для достижения заданного функционального назначения тонкослойных покрытий требуется соответствующее метрологическое обеспечение. При этом предъявляются повышенные требования к методам и средствам контроля их параметров и характеристик.
Введение 3
1 Физико-технологические особенности формирования композиционных углеродных покрытий и методы исследования их оптических характеристик 6
1.1 Экспериментальное оборудование для получения композиционных углеродных покрытий 6
1.1.1 Получение алмазоподобных пленок методом ионно-лучевого синтеза 12
1.1.2 Модернизация серийной вакуумной установки для получения алмазоподобных пленок лазерным методом 14
1.1.3 Комбинированный метод получения алмазоподобных пленок 15
1.2 Аппаратура для исследования структуры и состава углеродных алмазоподобных покрытий. 17
1.3 Методы исследования оптических характеристик углеродных алмазоподобных покрытий. 21
1.3.1 Спектральные методы определения основных оптических свойств тонких покрытий. 21
1.3.2 Эллипсометрические методы определения показателя преломления и коэффициента поглощения тонких покрытий: лазерная эллипсометрия, спектральная эллипсометрия. 25
2 Синтез композиционных углеродных покрытий и исследование их оптических характеристик 30
2.1 Синтез углеродных алмазоподобных покрытий импульсным катодно-дуговым распылением и с помощью углеродной плазмы. 30
2.2. Эллипсометрические методы определения основных оптических характеристик композиционных углеродных покрытий. 33
3 Исследование зависимости основных оптических характеристик композиционных углеродных покрытий от режимов и параметров их синтеза. 39
3.1 Эллипсометрические измерения оптических свойств композиционных углеродных покрытий 39
3.2 Спектрофотометрические измерения оптических характеристик композиционных углеродных покрытий 48
Заключение 51
Список использованных источников 52
Параметры нанесения покрытий:
С целью увеличения скорости роста алмазоподобных покрытий в камере создают вспомогательный разряд, позволяющий повысить температуру плазмы и концентрацию атомарного водорода вблизи поверхности осаждения. Покрытия, получаемые данным методом, имеют мелкодисперсную гетерофазную структуру, причем соотношение фаз существенно зависит от энергии ионов [11].
Близкие по своей природе процессы протекают при использовании для инициирования процессов синтеза тлеющего, микроволнового и ВЧ-разряда.
В первом случае установка для осаждения углеродных пленок состоит из реакционной камеры, в которой устанавливается разрядная трубка. Тлеющий разряд зажигается при напряжении между электродами Up=1…4 кВ и давлении углеродсодержащего газа в пределах 6,6.10-1…2,6.103 Па. Покрытие осаждается на подложку, имеющую достаточно высокую температуру (до 1200 0С). При повышении температуры подложки образование твердой фазы снижается и протекает процесс графитизации осажденного алмазного покрытия.
Известны способы получения алмазоподобных покрытий с использованием комбинированного электрического разряда, состоящего, например, из тлеющего разряда постоянного тока и низкочастотного (15…20 кГц) высоковольтного разряда. В реакторе, содержащем смесь метана с водородом с концентрацией метана 5…35 объемных процентов, зажигается тлеющий разряд постоянного тока, а на один из электродов подается низкочастотное напряжение до 20 кВ, сила тока, протекающего через него, равна ~ 5мА.
В случае, когда для осаждения алмазоподобных покрытий применяется микроволновое излучение, используют устройство, которое содержит реакционную камеру, микроволновый (частота 2,45 ГГц) генератор, систему нагрева подложек. Нагрев подложки производится до температуры 600…1300 0С. Максимальная скорость роста кристаллов покрытия достигается при 9250С, а наилучшее качество алмазоподобных покрытий – при 1000 0С.
Высокочастотная плазма создается
в смеси водорода и углеродосодержащего
газе. Концентрация углеродосодержащего
газа в смеси составляет 0,1…5,0 %. В
плазме происходит разложение углеродосодержащего
газа с образованием углерода в
атомарном состоянии и
Использование ВЧ-разрядов позволят исключить зарядку подложки, и обеспечивает, таким образом, высокие стабильность процесса осаждения и качество покрытия.
Достаточно качественные алмазоподобные покрытия образуются при использовании ионно-лучевых методов осаждения. В этом случае на поверхность подложки, температура которой 25…30 0С, направляется поток ионов углерода, имеющих энергию 20…100 эВ. При энергии от 50 до 70 эВ плотность покрытий имеет максимальное значение, что свидетельствует о минимальном содержании графитовой фазы, и быстро уменьшается при увеличении энергии ионов свыше 70 эВ.
Разработана промышленная технология получения углеродных пленок из плазмы импульсного катодно-дугового разряда. Установка оборудована газовым ионным источником, с помощью которого можно производить очистку и нагрев подложек, источником плазмы стационарного катодно-дугового разряда с металлическим (например,титановым) катодом, источником плазмы импульсного катодно-дугового разряда с катодом из графита, используемым для нанесения углеродных покрытий [12].
Данная установка позволяет
формировать легированные металлом
(титаном, медью и др.) углеродные
покрытия одновременным осаждением
углерода и легирующего металла
на поверхность изделия. Испарение
легирующего металла
1 – анод 1; 2 – поджигающий электрод; 3 – анод 2; 4 – соленоид; 5 – катод
Рисунок 1 – Схема источника плазмы импульсного катодно-дугового разряда
Анодный узел источников состоит из медного анода с графитовой кольцевой вставкой и соленоида, фокусирующего поток плазмы и обеспечивающего формирование необходимой диаграммы направленности.
Важно, что установка комплектуется электродуговым испарителем с системой магнитной сепарации ионов, что позволяет наносить многослойные и легирующие покрытия металлов, их карбидов и нитридов [13].
Основные физико-механические свойства покрытий, получаемых с помощью вакуумной установки УВНИПА-1-001, и их скорость роста приведены в таблице 2.
Таблица 2 – Основные физико-механические свойства получаемых покрытий сложного состава и их скорость роста
Материал покрытия |
Макси-мальная скорость роста, мкм/мин |
Максимальная твердость, ГПа |
Модуль упругости, ГПа |
Коэффициент трения |
Интенсивность изнашивания |
Алмазоподобное покрытие |
1,0 |
60,0 |
370 |
0,1 – 0,2 |
менее 10-9 |
Алмазоподобное покрытие, легированное титаном |
0,09 |
35,0 |
220 |
0,1 – 0,3 |
менее 10-9 |
Многослойное покрытие Тi+TiN+алмазо-подобное |
0,09 |
- |
- |
0,06 – 0,12 |
менее 10-9 |
Основные области применения покрытий, формируемых из плазмы импульсного катодно-дугового разряда: машиностроение - для получения износостойких и антифрикционных слоев, в качестве защитных и декоративных покрытий; медицинское оборудование и инструмент – защитные, совместимые с живыми тканями покрытия для протезов; оптическое приборостроение – фильтры, селективная оптика.
В последнее
время все более актуальным становится
поиск оптимальных режимов
Кроме того,
использование импульсных лазеров
для напыления пленок из-за очень
короткого времени
Большое количество методов ионно-лучевого синтеза АПП позволяет формировать углеродные пленки с алмазоподобными свойствами. Однако, слабая адгезия полученных пленок к подложкам является одним из основных недостатков методов ионно-лучевого синтеза АПП [14-16]. Адгезия характеризует прежде всего их механическую прочность и термическую стойкость, а также тепловой и электрический контакты, поверхностное натяжение, смачивание в жидкой фазе и т.п. В реальности адгезия пленки к подложке неодинакова по всей площади контактирования, причем локальные значения адгезии носят случайный характер и меняются от нуля до величины максимально возможной для данной пары материалов пленка-подложка. Это обусловлено наличием дефектов поверхности подложек, островковых загрязнений и т.д. Для различных материалов степень адгезии возрастает в следующем порядке: селенид цинка, кварц, стекло, сапфир, кремний, германий. Таким образом получение АПП на подложках имеющих плохую адгезию с пленкой затруднительно при использовании традиционного метода ионно-лучевого синтеза АПП [18-20].
Для получения хорошей адгезии синтезируемых пленок к различным подложкам было внесено изменение в традиционную схему ионно-лучевого синтеза АПП [21-23]. Для очистки поверхности подложек был применен высокоэнергетичный ионный источник. Схема модернизированной вакуумной установки ВУ-1А для ионно-лучевого синтеза углеродных пленок представлена на рисунке 2.
1- вакуумная камера; 2- устройство для охлаждения водой; 3- подложка; 4- низкоэнергетичный ионно-лучевой источник; 5,6-регуляторы расхода газа; 7- высокоэнергетичный ионно-лучевой источник
Рисунок 2 - Схема вакуумной установки для ионно-лучевого синтеза алмазоподобных пленок
Вакуумная камера 1, откачивается до остаточного давления 2-4*10-3 Па. Далее производится очистка поверхности подложек 3 ионами Ar с помощью высокоэнергетичного ионного источника 7 в течение 5 мин. Параметры разряда ионного источника составляют: Uа=2кВ, Iа=40 мА. Рабочий вакуум поддерживался в пределах 1-3*10-2 Па. Аргон в ионный источник 7 подается через натекатель 6. После выключения высокоэнергетичного ионного источника 7 через натекатель 5 в низкоэнергетичный ионный источник 4 подается углеродсодержащий газ (бутан, пропан, метан или их смесь с Ar). Hизкоэнергетичный ионный источник выполнен по схеме торцевого холловского ускорителя с открытым анодным слоем [24,25] и позволят формировать пучок ионов с энергией (20 - 200) эВ, имеющий угол разлета ионов (140-160)°. Параметры разряда ионного источника составляют: Uа=110-150В, Iа=2-4 А. Для обеспечения максимальной адгезии пленки к подложке выключение высокоэнергетичного ионного источника производилось постепенно. В течение 1-3 минут производилось осаждение АПП из низкоэнергетичного источника 4 при работающем высокоэнергетичном ионном источнике 7 с параметрами разряда Uа=2 кВ, Iа=20 мА. Подложки 3, поддерживаемые при комнатной температуре с помощью устройства для охлаждения водой 2, располагаются на расстоянии ~30 см от ионного источника 4. Покрытия, полученные описанным способом, отличаются высокой равномерностью < 5% на площади до 100 см2, светопропусканием в видимой и ИК областях спектра до 80% при толщине d~ 300 нм. Скорость осаждения покрытий описанным методом достигала ~20 нм/мин.
Для нанесения алмазоподобных пленок лазерным методом используются различные типы лазеров.
Для получения АПП лазерным методом используется серийная вакуумная установка УВH-73П оснащенная низкоэнергетичным ионным источником [24,25] для очистки поверхности подложки импульсным лазером. Схема установки представлена на рисунке 3. Вакуумная камера 4 откачивается до остаточного давления 2-4*10-3 Па. Далее производится очистка поверхности подложек 6 ионами аргона с помощью ионного источника 9 в течение 10 мин. Параметры разряда ионного источника составляют: Uа=110-150 В, Iа=2-4 А. Аргон в ионный источник подается через натекатель 10 до рабочего давления в вакуумной камере 2-4*10-2 Па. Излучение лазера 1 направляется в вакуумную камеру через вакуумный оптический ввод 5, выполненный из кварцевого стекла марки КИ, на графитовую мишень 3, помещенную в вакуумную камеру. В качестве мишени использовался графит марки ОСИ-7-4. Подложки располагаются на вращающейся карусели 7, имеющей форму конуса для обеспечения максимальной равномерности нанесения покрытия. Защитное стекло 8 служит для защиты оптического ввода от напыления продуктами испаряемого вещества 3.
Оптическое излучение генерируется импульсным лазером на алюмоиттриевом гранате (l=1,06 мкм). Управление и питание лазера проводится с помощью промышленных блоков:МТ-42М; СПИК-3; Накачка-3000МИ; БПЛ-75/33. Используется также лазер ГОС-301 на стекле с Nd (l=1,06 мкм ), работающий в режиме свободной генерации.
Для обеспечения максимальной адгезии формируемой пленки к подложке ионно-лучевой источник выключается после 1-2 импульсов лазерного излучения. Далее напыление АПП производится в рабочем вакууме 2-8*10-3 Па.
1-лазер; 2- фокусирующая линза; 3- графитовая мишень; 4- вакуумная камера; 5- вакуумный оптический ввод; 6- подложки; 7- вращающаяся карусель; 8- защитное стекло; 9- низкоэнергетичный ионно-лучевой источник; 10 -регулятор расхода газа
Рисунок 3 - Схема вакуумной установки для формирования
алмазоподобных пленок из лазерного эрозионного факела
Подложки, поддерживаемые при комнатной температуре, располагаются от графитовой мишени на расстоянии ~2-3 см для лазера на алюмоиттриевом гранате и ~6-8 см для лазера на стекле с Nd. Указанное расстояние обусловлено преимущественным формированием алмазной фазы в осаждающейся пленке. Пленки полученные описанным способом отличаются высокой износостойкостью, достаточно высоким светопропусканием в видимой ~50-60% и ИК ~60-90% областях спектра при толщине d~ 200 нм. Скорость осаждения покрытий описанным методом достигается ~180 нм/мин.
Информация о работе Оптические свойства композиционных углеродных покрытий