Автор работы: Пользователь скрыл имя, 01 Июля 2013 в 22:51, дипломная работа
Современная тенденция рационального использования материальных ресурсов находит свое отражение в микроминиатюризации многих оптических и электронных устройств, применяемых в различных областях науки и техники. В связи с этим возрастает роль тонкослойных покрытий, позволяющих решать важные технические задачи с помощью компактных элементов при использовании минимального количества исходного материала. Для достижения заданного функционального назначения тонкослойных покрытий требуется соответствующее метрологическое обеспечение. При этом предъявляются повышенные требования к методам и средствам контроля их параметров и характеристик.
Введение 3
1 Физико-технологические особенности формирования композиционных углеродных покрытий и методы исследования их оптических характеристик 6
1.1 Экспериментальное оборудование для получения композиционных углеродных покрытий 6
1.1.1 Получение алмазоподобных пленок методом ионно-лучевого синтеза 12
1.1.2 Модернизация серийной вакуумной установки для получения алмазоподобных пленок лазерным методом 14
1.1.3 Комбинированный метод получения алмазоподобных пленок 15
1.2 Аппаратура для исследования структуры и состава углеродных алмазоподобных покрытий. 17
1.3 Методы исследования оптических характеристик углеродных алмазоподобных покрытий. 21
1.3.1 Спектральные методы определения основных оптических свойств тонких покрытий. 21
1.3.2 Эллипсометрические методы определения показателя преломления и коэффициента поглощения тонких покрытий: лазерная эллипсометрия, спектральная эллипсометрия. 25
2 Синтез композиционных углеродных покрытий и исследование их оптических характеристик 30
2.1 Синтез углеродных алмазоподобных покрытий импульсным катодно-дуговым распылением и с помощью углеродной плазмы. 30
2.2. Эллипсометрические методы определения основных оптических характеристик композиционных углеродных покрытий. 33
3 Исследование зависимости основных оптических характеристик композиционных углеродных покрытий от режимов и параметров их синтеза. 39
3.1 Эллипсометрические измерения оптических свойств композиционных углеродных покрытий 39
3.2 Спектрофотометрические измерения оптических характеристик композиционных углеродных покрытий 48
Заключение 51
Список использованных источников 52
Обозначения: 1 - тумблер включения
сетевого питания; 2 - кнопка юстировки
прибора; 3 - кнопка юстировки прибора;
4 -кнопка увеличения напряжения на фотоэлектронном
умножителе; 5 - кнопка сброса напряжения
с фотоэлектронного умножителя; 6 - кнопка
включения подсветки на экране поляризатора
(13); 7 - кнопка включения подсветки
на экране анализатора (17); 8 - кнопка включения
подсветки в окуляре (12); 9 - насадка
с диафрагмой формирования луча; 10 - диск
вращения поляризатора; 11 - ручка выбора
типа излучателя; 12 - окуляр; 13 - экран шкалы
поляризатора; 14 - источник излучения (гелий-неоновый
лазер);
15 - микроамперметр; 16 - фотоэлектронный
умножитель; 17 - экран шкалы анализатора;
18 - ручка выбора типа излучателя; 19 - переключатель;
20 - диск вращения анализатора; 21 - диафрагма;
22 - предметный столик;
23 - микрометрические винты; 24 - винты регулировки
расположения предметного столика (22);
29 – микроамперметр
Рисунок 17 - Эллипсометр ЛЭФ-3М-1
Эллипсометрические измерения проводились следующим образом:
Если значение
угла P0 лежит в интервале от 90о
до 180о, а значение угла
A0 – в интервале от 0о до 90о,
то значение P0
, которое нужно выставить на поляризаторе
для продолжения измерения, можно определить
следующим образом:
. Если значение угла P0
лежит в интервале от 0о до 90о,
а значение угла A0
– в интервале от 90о до 180о,
то значение P0 определяется по формуле:
. На анализаторе значение угла
выставляется равным значению угла
А0. После этого необходимо повторить
все предыдущие действия, начиная с гашения
красного пятна на экране (17), чтобы получить
значения углов A и P, А=180о – A0.
После этого на компенсаторе следует угол C0–45о, α2=189о43' для исследования третьей и четвёртой зон. Затем повторить все действия, описанные выше.
Если оба значения углов P0 и A0 принадлежат интервалу от 0о до 90о, то речь идёт о III зоне. Если они принадлежат интервалу от 90о до 180о, то можно говорить о IV зоне.
После проведения измерений следует рассчитать величины и с помощью расчёта значений 12 и 34, а также 12 и 34.
Если AI>AII, то:
Если AI<AII, то:
Если AIII>AIV, то:
Если AIII<AIV, то:
Получив значения и , используя фундаментальное уравнение эллипсометрии, можно рассчитать оптические параметры алмазоподобной плёнки.
. (26)
К наиболее важным оптическим характеристикам покрытия относятся пропускание τ, толщина t и показатель преломления n2:
, (45)
, (46)
, (47)
где λ – длина волны, – комплексный показатель преломления, χ – коэффициент поглощения.
Для проведения расчётов рассмотрим интерференционную кривую пропускания в функции длины волны λ. Обозначим показатели преломления последовательно расположенных сред: n1=1 – для воздуха, n2 – для покрытия, n3 – для подло
+жки (nкремния=1,34), n4 – для воздуха. Величина коэффициентов отражения R1 на границе воздух – покрытие и R2 на границе покрытие – подложка определяются следующим образом:
; (48)
.
(49)
Пропускание интерференционного фильтра, каким является рассматриваемая система, в максимуме полосы равно:
, (50)
, (51)
где – значение максимума пропускания по экспериментальной кривой .
, (52)
где – слагаемое, учитывающее R3 отражение на границе подложка-воздух.
. (53)
Оптическая толщина плёнок равна:
,
где νт+1, νn – волновые числа соседних экстремумов на кривой .
Контрастность С интерференционного фильтра определяется:
, (55)
, (56)
где – значение минимума пропускания по экспериментальной кривой . – слагаемое, учитывающее отражение на границе подложка – воздух.
. (57)
Совокупность уравнений (50 – 57) является системой, в результате решения которой определяются значения основных оптических параметров плёнки τ, t и n2. Последовательность вычислений искомых величин такова. Из формулы (55) необходимо выразить единственный независимый в ней показатель преломления n2, учитывая, что R1 и R2 в ней задаются формулами (48) и (49), – формулой (50), – формулой (56).
. (58)
После расчета R1 и R2 по формулам (48) и (49) вычислим τ, выражение для которого получим из (50):
; (59)
. (60)
Толщина плёнки t определяется из (54), а затем на основе формул (45) и (46) рассчитываются значения k и Таким образом, все оптические константы плёнки рассчитаны [26].
Погрешность вычислений будет зависеть в основном от неточности представления величин R1 и R2 по формулам (48) B (49), не учитывающим поглощения в плёнке. Точная запись для коэффициентов отражения на границе воздух-покрытие и на границе покрытие-подложка, соответственно, имеет вид:
; (61)
. (62)
Найдем, начиная с каких значений χ относительная ошибка в определении , превысит наперёд заданную величину :
. (63)
Из (63) выразим χ:
. (64)
В ходе выполнения работы были получены образцы алмазоподобных покрытий на кремниевой подложке, которые наносились при напряжении разряда 350 В и частоте импульсов 3 Гц (5000 импульсов) с помощью источника плазмы импульсного катодно-дугового разряда с центральным электродом из графита, являющимся катодом, распыляемого в процессе сильноточного дугового импульсного разряда, легированные азотом. Данные значений давления азота представлены в таблице 3.
Таблица 3 – Значения давления азота полученных образцов
Номер образца |
Давление азота, Па |
1 |
100 |
2 |
10-1 |
3 |
2×10-2 |
4 |
10-3 |
5 |
6×10-3 |
Измерения проводились на эллипсометре ЛЭФ-3М-1 для двух углов падения луча: 700 и 730. Результаты измерений исследовались с помощью компьютерной программы Elipsometry. Данная программа позволяет рассчитывать параметры тонких покрытий, в том числе и многослойных (до 5 слоев), а также сохранять полученные данные в формате .txt.
Внешний вид программы представлен на рисунках 18 – 21.
Рисунок 18 – Окно программы Elipsometry
Рисунок 19 – Вкладка ввод числа слоев
Рисунок 20 – Вкладка задания граничных условий поиска
Рисунок 21 – Вкладка ввода экспериментальных данных
В таблицах 4-8 представлены данные, которые были получены при исследовании образцов 1-5.
Таблица 4 – Значения углов, полученные при исследовании методом лазерной эллипсометрии образца 1
P |
A |
Зона |
Угол | |
C0+45о |
221°24´ |
280°17´ |
II |
73° |
311°19´ |
260°25´ |
I | ||
C0–45о |
283°02´ |
265°55´ |
III | |
224°50´ |
280°20´ |
IV | ||
C0+45о |
129°03´ |
265°47´ |
II |
70° |
38°01´ |
275°01´ |
I | ||
C0–45о |
49°48´ |
274°49´ |
III | |
139°58´ |
265°31´ |
IV |
Таблица 5 – Значения углов, полученные при исследовании методом лазерной эллипсометрии образца 2
P |
A |
Зона |
Угол | |
C0+45о |
115°37´ |
263°17´ |
II |
73° |
24°10´ |
278°21´ |
I | ||
C0–45о |
243°14´ |
277°04´ |
IV | |
152°38´ |
262°00´ |
III | ||
C0+45о |
91°33´ |
266°00´ |
I |
70° |
179°40´ |
275°37´ |
II | ||
C0–45о |
176°53´ |
264°41´ |
III | |
267°33´ |
274°18´ |
IV |
Информация о работе Оптические свойства композиционных углеродных покрытий